Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Osinniy, V." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Fano Resonance Investigation of PbTe Layers Containing Eu and Gd Ions
Autorzy:
Orlowski, B.
Osinniy, V.
Dziawa, P.
Pietrzyk, M.
Kowalski, B.
Taliashvili, B.
Story, T.
Johnson, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1812243.pdf
Data publikacji:
2008-08
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
79.60.-i
71.20.Mq
Opis:
The Fano resonance photoemission studies of Gd/(Pb, Gd)Te layers using synchrotron radiation were carried out and the electronic structure parameters like binding energies of $Gd^{3+}$ 4f and 5p shells, resonance and antiresonance energies for $Gd^{3+}$ were determined. The presence of $Eu^{3+}$ ions was observed in the (Pb, Eu)Te and (Eu, Gd)Te layers grown by MBE technique. The comparison of data for (Pb, Gd)Te compound with corresponding data for (Eu, Gd)Te and (Pb, Eu)Te layers indicates that we are not able to distinct the $Eu^{3+}4f$ and $Gd^{3+}4f$ electrons contribution to the valence band photoemission spectra because of small content od Gd and similar binding energy values. The key parameters allowing to prove exactly the presence of either $Eu^{3+}$ or $Gd^{3+}$ are the resonance and antiresonance energies which are significantly different for these ions and equal to 143 eV/137 eV and 150 eV/142 eV, respectively.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 114, 2; 351-356
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Fano Resonance of Eu$\text{}^{2+}$ and Eu$\text{}^{3+}$ in (Eu,Gd)Te MBE Layers
Autorzy:
Orlowski, B. A.
Kowalski, B. J.
Dziawa, P.
Pietrzyk, M.
Mickievicius, S.
Osinniy, V.
Taliashvili, B.
Kowalik, I. A.
Story, T.
Johnson, R. L.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2044511.pdf
Data publikacji:
2005-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
79.60.-i
71.20.Mq
Opis:
Resonant photoemission spectroscopy, with application of synchrotron radiation, was used to study the valence band electronic structure of clean surface of (EuGd)Te layers. Fano-type resonant photoemission spectra corresponding to the Eu 4d-4f transition were measured to determine the contribution of 4f electrons of Eu$\text{}^{2+}$ and Eu$\text{}^{3+}$ ions to the valence band. The resonant and antiresonant photon energies of Eu$\text{}^{2+}$ ions were found as equal to 141 V and 132 eV, respectively and for Eu$\text{}^{3+}$ ions were found as equal to 146 eV and 132 eV, respectively. Contribution of Eu$\text{}^{2+}$4f electrons was found at the valence band edge while for Eu$\text{}^{3+}$ it was located in the region between 3.5 eV and 8.5 eV below the valence band edge.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2005, 108, 5; 803-807
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
(Eu,Gd)Te - MBE Growth and Characterization
Autorzy:
Dziawa, P.
Taliashvili, B.
Domuchowski, W.
Łusakowska, E.
Arciszewska, M.
Demchenko, I.
Dobrowolski, W.
Dybko, K.
Fedorych, O. M.
Nadolny, A. J.
Osinniy, V.
Petrouchyk, A.
Story, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2038228.pdf
Data publikacji:
2004-08
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
75.50.Pp
81.15.Hi
Opis:
Monocrystalline thin layers of (Eu,Gd)Te, n-type ferromagnetic semiconductor, were grown by molecular beam epitaxy technique on BaF$\text{}_{2}$ (111) substrates. Reflection high-energy electron diffraction, X-ray diffraction, and atomic force microscopy characterization proved epitaxial mode of growth and high crystal quality of the layers. Magnetic susceptibility and magnetic resonance measurements showed that in (Eu,Gd)Te layers ferromagnetic transition takes place at about 13 K. Electrical characterization carried out by the Hall effect and resistivity measurements revealed very high electron concentration of 10$\text{}^{20}$~cm$\text{}^{-3}$ and sharp maximum of resistivity at transition temperature.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2004, 106, 2; 215-221
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies