Temat: Statistics - Katalog OPAC zbiorów

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: On two families of tests for normality with empirical description of their performances
Autorzy:: Szynal, Dominik
Wołyński, Waldemar
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/729786.pdf
Data publikacji:: 2014
Wydawca:: Uniwersytet Zielonogórski. Wydział Matematyki, Informatyki i Ekonometrii
Tematy:: order statistics
record values
U-statistics
normal distributions
exponential distributions
characterizations
goodness-of-fit tests
powers
Opis:: We discuss two families of tests for normality based on characterizations of continuous distributions via order statistics and record values. Simulations of their powers show that they are competitive to widely recommended tests in the literature.
Źródło:: Discussiones Mathematicae Probability and Statistics; 2014, 34, 1-2; 169-185
1509-9423
Pojawia się w:: Discussiones Mathematicae Probability and Statistics
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Characterizations of uniform and exponential distributions via moments of the kth record values randomly indexed
Autorzy:: Grudzień, Zofia
Szynal, Dominik
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/1339203.pdf
Data publikacji:: 1997
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Matematyczny PAN
Tematy:: sample
record values
exponential
order statistics
Weibull distributions
uniform
Opis:: We characterize uniform and exponential distributions via moments of the kth record statistics. Too and Lin's (1989) results are contained in our approach.
Źródło:: Applicationes Mathematicae; 1996-1997, 24, 3; 307-314
1233-7234
Pojawia się w:: Applicationes Mathematicae
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Recurrence relations for single and product moments of k-th lower record values from the inverse distributions of Paretos type and characterizations
Autorzy:: Pawlas, Piotr
Szynal, Dominik
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/729956.pdf
Data publikacji:: 2000
Wydawca:: Uniwersytet Zielonogórski. Wydział Matematyki, Informatyki i Ekonometrii
Tematy:: sample
order statistics
k-th lower record values
moments
product moments
inverse distributions
Opis:: We give recurrence relations for single and product moments of k-th lower record values from the inverse Pareto, inverse generalized Pareto and inverse Burr distributions. We present also characterization conditions for these distributions.
Źródło:: Discussiones Mathematicae Probability and Statistics; 2000, 20, 2; 223-231
1509-9423
Pojawia się w:: Discussiones Mathematicae Probability and Statistics
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Characterizations of the inverse Weibull distribution and generalized extreme value distributions by moments of kth record values
Autorzy:: Pawlas, Piotr
Szynal, Dominik
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/1208208.pdf
Data publikacji:: 2000
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Matematyczny PAN
Tematy:: sample
record values
kth record values
order statistics
generalized extreme value distributions
inverse Weibull distribution
Opis:: We give characterization conditions for the inverse Weibull distribution and generalized extreme value distributions by moments of kth record values.
Źródło:: Applicationes Mathematicae; 2000, 27, 2; 197-202
1233-7234
Pojawia się w:: Applicationes Mathematicae
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Characterizations of distributions by moments of order statistics when the sample size is random
Autorzy:: Grudzień, Zofia
Szynal, Dominik
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/1340262.pdf
Data publikacji:: 1995
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Matematyczny PAN
Tematy:: Poisson distribution
logarithmic series
binomial
random sample size
geometrical
order statistics
recurrence formula
uniform distribution
negative binomial
moments
Opis:: We give characterizations of the uniform distribution in terms of moments of order statistics when the sample size is random. Special cases of a random sample size (logarithmic series, geometrical, binomial, negative binomial, and Poisson distribution) are also considered.
Źródło:: Applicationes Mathematicae; 1995-1996, 23, 3; 305-318
1233-7234
Pojawia się w:: Applicationes Mathematicae
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Goodness-of-fit tests based on characterizations of continuous distributions
Autorzy:: Morris, Kerwin
Szynal, Dominik
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/1208159.pdf
Data publikacji:: 2000
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Matematyczny PAN
Tematy:: uniform, Weibull, exponential, Pareto distributions
significance probability
k-record values
goodness-of-fit tests
order statistics
characterization of distributions
Opis:: We construct goodness-of-fit tests for continuous distributions using their characterizations in terms of moments of order statistics and moments of record values. Our approach is based on characterizations presented in [2]-[4], [5], [9].
Źródło:: Applicationes Mathematicae; 2000, 27, 4; 475-488
1233-7234
Pojawia się w:: Applicationes Mathematicae
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Informacja