Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Pluciński, J." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Optyczna interferometria niskokoherentna w diagnostyce powłok ochronnych
Optical low-coherent interferometry for diagnosis of protective layers
Autorzy:
Pluciński, J.
Strąkowski, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/153664.pdf
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
optyczna interferometria niskokoherentna
optyczna tomografia koherentna
powłoka ochronna
low-coherent interferometry
optical coherent tomography
protective layer
Opis:
W artykule zaproponowano zastosowanie optycznej interferometrii niskokoherentnej w diagnostyce powłok ochronnych. W badaniach wykorzystano optyczny tomograf koherencyjny wykorzystujący interferometr w konfiguracji Michelsona. W układzie pomiarowym użyto podczerwone źródło promieniowania o krótkiej drodze koherencji, którym był światłowód fotoniczny pobudzany erbowym laserem femtosekundowym. Zastosowano detekcję zrównoważoną niewrażliwą na zmiany polaryzacji przez badany obiekt. Przedstawione wyniki pomiarów pokazały, że można tą techniką diagnozować powłoki ochronne bazujące na farbie zawierającej silnie rozpraszające lub absorbujące pigmenty.
In this paper, the use of optical low-coherent interferometry for diagnosis of protective layer is proposed. We have used an optical coherent tomography (OCT) system which was based on Michelson interferometer. During our research, a super-continuum infrared light source based on photonic crystal fiber stimulated by a femtosecond erbium-doped laser was used. Balanced and polarization-sensitive detection was employed. Obtained measurement results demonstrate the ability of our system to diagnose high scattering or absorbing protective paint layers by the OCT system.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2008, R. 54, nr 3, 3; 157-160
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Polarization Sensitive Optical Coherence Tomography with Spectroscopic Analysis
Autorzy:
Strąkowski, M.
Pluciński, J.
Kosmowski, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1493325.pdf
Data publikacji:
2011-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
42.79.-e
42.87.-d
42.79.Sz
42.79.Ta
Opis:
The optical coherence tomography is an optical measurement technique used for investigation of wide range of scattering or semitransparent materials. The optical coherence tomography enables surface and subsurface examination of different types of materials to be performed in non-contact and non-destructive way. Our research have been concentrated on optical coherence tomography systems with polarization sensitive analysis. Such a combination of optical measurements methods improves optical coherence tomography visualization contrast and also delivers some extra information about investigated devices. However, applying polarization sensitive analysis is associated with problems related to the use of ultra broadband optical sources. We have managed studies on the improvement of signal processing method. According to obtained results the problem of signal processing method in polarization sensitive optical coherence tomography can be solved by the use of the spectroscopic analysis. In this paper we present a brief discussion about the polarization sensitive optical coherence tomography measurements supported by spectroscopic analysis of backscattered light from investigated device.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 120, 4; 785-788
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Cross-Sectional Imaging of Materials Structure Using PS-OCT
Autorzy:
Strąkowski, M.
Pluciński, J.
Kosmowski, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1811558.pdf
Data publikacji:
2008-12
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
42.79.-e
42.87.-d
Opis:
Optical low-coherence tomography is a measurement technique for non-contact and non-destructive investigation of materials inner structure. Nowadays, this method is highly applied in medical treatment especially in dermatology and ophthalmology. During our research we have developed an optical low-coherence tomography system with polarization state analysis for structure examination of a broad range of technical materials. In this paper we present our recent measurements including polarization sensitive analysis. Those measurements were taken for semitransparent and highly scattering materials like polymer layers and polymer optical retarders, anticorrosion protective coatings or abrasive paper. We proved that with the aid of developed polarization sensitive optical coherence tomography system it is possible to investigate birefringence principles of materials as well as to improve visualization contrast of cross-sectional images.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 114, 6A; A-217-A-221
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies