Temat: microscopy - Katalog OPAC zbiorów

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Application of scanning shear-force microscope for fabrication of nanostructures
Autorzy:: Sikora, A.
Gotszalk, T.
Sankowska, A.
Rangelow, I. W.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/308832.pdf
Data publikacji:: 2005
Wydawca:: Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:: AFM
nanostructures fabrication
shear force microscopy
Opis:: In view of the rapid growth of interest in AFM technique in surface property investigation and local surface modification we describe here an AFM microscope with optical tip oscillation detection. The modular shear-force/tunneling microscope for surface topography measurement and nanoanodisation is described. The measurement instrument presented here is based on the fiber Fabry-Perot interferometer for the measurement of the conductive microtip oscillation that is used as nano e-beam for local surface anodisation. An advantage of this system is that quantitative measurements of tip vibration amplitude are easily performed.
Źródło:: Journal of Telecommunications and Information Technology; 2005, 1; 81-84
1509-4553
1899-8852
Pojawia się w:: Journal of Telecommunications and Information Technology
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: The implementation and the performance analysis of the multi-channel software-based lock-in amplifier for the stiffness mapping with atomic force microscope (AFM)
Autorzy:: Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/201101.pdf
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: atomic force microscopy (AFM)
stiffness mapping
lock-in amplifier
software development
torsional oscilators
Opis:: In this paper the implementation of the surface stiffness mapping method with the dynamic measurement mode of atomic force microscopy (AFM) is presented. As the measurement of the higher harmonics of the cantilever’s torsional bending signal is performed, we are able to visualize non-homogeneities of the surface stiffness. In order to provide signal processing with the desired sensitivity and selectivity, the lock-in amplifier-based solution is necessary. Due to the presence of several useful frequencies in the signal, the utilization of several simultaneously processing channels is required. Therefore the eight-channel software-based device was implemented. As the developed solution must be synchronized with the AFM controller during the scanning procedure, the real-time processing regime of the software is essential. We present the results of mapping the surface stiffness and the performance tests results for different working conditions of the developed setup.
Źródło:: Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2012, 60, 1; 83-88
0239-7528
Pojawia się w:: Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Ocena korelacji pomiędzy grubością a magnetyczną strukturą domenową cienkich warstw NIFe
Estimation of correlation of film thickness and magnetic domain structures of NIFe thin films
Autorzy:: Ozimek, M.
Sikora, A.
Wilczyński, W.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/158627.pdf
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:: rozpylanie magnetronowe
domeny magnetyczne
mikroskop sił magnetycznych
magnetron sputtering
magnetic domain
magnetic force microscopy
Opis:: Cienkie warstwy NiFe są powszechnie wykorzystywane jako magnetyczne nośniki danych oraz czujniki. Szczególnie znany jest stop Ni83Fe17. Jedną z najpowszechniej wykorzystywanych metod otrzymywania cienkich warstw magnetycznych jest rozpylanie magnetronowe. Fizyczne i elektryczne właściwości cienkich warstw silnie zależą od wielu czynników, takich jak struktura krystalograficzna, orientacja, skład oraz rodzaj podłoża na którym warstwa została osadzona. Ponadto, w przypadku warstw magnetycznych, ich właściwości magnetyczne są określane poprzez magnetyczną strukturę domenową. W artykule przedstawiono wyniki badań mających na celu poznanie korelacji pomiędzy grubością, a magnetyczną strukturą domenową cienkich warstw NiFe. W celu uzyskania ilościowego opisu uzyskanych wyników, z powodzeniem zastosowano algorytmy przeznaczone do analizy parametrów topografii.
NiFe alloy thin films are commonly used in the area of memory devices for computers, magnetic recording media, sensor industry and microelectromechanical systems. In particular, Permalloy (Ni83Fe17) is well known group of thin films, because of its high magnetic saturation, low coercivity and low magnetization. One of the methods of providing high quality soft magnetic thin films is magnetron sputtering. Physical and electrical properties of thin films strongly depend on many parameters such as crystallographic structure, orientation, composition or the type of substrate. In addition, in the case of magnetic layers, their magnetic properties are determined by obtaining domain structure. In the article we’ve described results of the research aimed on recognition of correlation of film thickness and magnetic domain structures. In order to obtain quantitative description of obtained results, we’ve successfully applied algorithms designed for topography parameters determination.
Źródło:: Prace Instytutu Elektrotechniki; 2012, 259; 83-84
0032-6216
Pojawia się w:: Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Rozwój i zastosowanie zaawansowanych technik mikroskopii sił atomowych w diagnostyce materiałów elektrotechnicznych. Wybrane zagadnienia : wybrane zagadnienia
Development and utilization of advanced atomic force microscopy techniques in diagnostics of the electrotechnical materials. Chosen problems
Autorzy:: Sikora, A.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/159812.pdf
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:: nikroskopia sił atomowych
diagnostyka powierzchni w nanoskali
elektrotechnika
atomic force microscopy (AFM)
nanoscale surface diagnostics
electrotechnics
Opis:: Dynamiczny rozwój inżynierii materiałowej, w której coraz liczniejszą grupę tworzą tzw. nanomateriały, wymusza stosowanie narzędzi pomiarowych pozwalających uzyskać informacje o zjawiskach i efektach obecnych w skali nanometrowej, a decydujących o właściwościach makroskopowych wytwarzanych obiektów. Mikroskopia sił atomowych (AFM) jest jedną z technik diagnostycznych umożliwiających pomiar właściwości powierzchni w skali mikrometrowej oraz nanometrowej. Realizowane za jej pomocą badania powierzchni materiałów stosowanych w elektrotechnice mogą obejmować szerokie spektrum właściwości. Uzyskiwane w ten sposób informacje pozwalają zrozumieć zależności między parametrami technologicznymi wytwarzania materiału a jego właściwościami makroskopowymi, dzięki czemu możliwe jest sterowanie procesem produkcyjnym w celu uzyskania finalnego produktu o pożądanych cechach poprzez wpłynięcie na jego nanoskopową strukturę. Niniejsza praca przedstawia rozwój oraz zastosowanie wybranych technik pomiarowych mikroskopii sił atomowych w diagnostyce właściwości mechanicznych, elektrycznych, magnetycznych i termicznych materiałów oraz struktur takich jak: azometiny, tłoczywa termoutwardzalne, polimery silikonowe, cienkie warstwy NiFe, mikrostruktury półprzewodnikowe oraz nanostruktury grafenowe. Zarejestrowane wyniki pomiarowe wykorzystano do zademonstrowania możliwości interpretacyjnych w odniesieniu do parametrów technologicznych, rezultatów innych badań lub też czynników wpływających na badaną próbkę. Do każdej grupy przykładów zastosowania określonego trybu pomiarowego, wprowadzenie stanowi zwarty opis podstaw teoretycznych oraz praktyki pomiarowej. Metody i rozwiązania opracowane przez autora zostały opisane szczegółowo, z uwagi na potencjalne trudności z uzyskaniem dostępu do alternatywnych źródeł informacji. Demonstracja szerokiego spektrum zastosowań opisanych metod diagnostycznych jest jednocześnie dowodem uniwersalności i przydatności mikroskopii sił atomowych w prowadzonych badaniach ukierunkowanych na opracowanie nowych, energooszczędnych, trwałych oraz ekologicznych materiałów do zastosowań w elektrotechnice.
Recent development of the materials science and increase of the significance of the nanomaterials, induces the utilization of the measurement tools allowing to obtain the information about the nanometer-scale phenomena, which have an major impact on the macroscopic properties of fabricated objects. Atomic force microscopy (AFM) is one of the diagnostic methods allowing to test various properties of the surface at micrometer and nanometer scale. It allows to perform the investigation in the wide range of the surface properties of the materials utilized in electrotechnics. Acquired data allows to understand the relations between the technology parameters and the properties of the materials, therefore one can obtain the final product with desired qualities by modifying the production process and influencing its nanoscopic structure. This dissertation presents development and utilization of selected advanced AFM techniques in examining mechanical, electrical, magnetic and thermal properties of the materials and structures such as: azomethines, sheet moulding compounds, silicon polymers, thin NiFe layers, semiconductor structures and graphene-based nanostructures. Obtained measurement data was used to demonstrate the interpretation possibilities in terms of referring to the technology parameters, other techniques tests results or the factors influencing the sample. In order to provide the basic information, every chapter introduction contains the short description of theory and practical issues of certain measurement technique. Methods and solutions developed by author are presented in detail as no alternative source of the information can be available to the reader. Demonstrated wide application spectra of described diagnostic methods proves the versatility and usability of atomic force microscopy in the research aimed at development of new, energy-saving and ecological materials for electrotechnics.
Źródło:: Prace Instytutu Elektrotechniki; 2012, 257; 13-186
0032-6216
Pojawia się w:: Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Ocena wpływu promieniowania świetlnego na nanoskopowe właściwości powierzchni kompozytów termoutwardzalnych
The evaluation of the solar radiation impact on the nanoscoppic properties of the surface of the sheet moulder composite
Autorzy:: Sikora, A.
Fałat, T.
Adamowska, M.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/159373.pdf
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:: badania środowiskowe
promieniowanie słoneczne
tomografia komputerowa
mikroskopia sił atomowych
environmental tests
solar radiation
micro computer tomography
atomic force microscopy
Opis:: Ocena wpływu promieniowania słonecznego na właściwości mechaniczne materiałów jest jednym z podstawowych badań środowiskowych, które przywoływane są w normach przedmiotowych dotyczących różnego typu urządzeń i elementów stosowanych w elektrotechnice. Rozwój wysokorozdzielczych technik diagnostycznych pozwala na dokonywanie bardziej szczegółowych niż dotychczas analiz wpływu czynników środowiskowych na właściwości mechaniczne powierzchni, co może być szczególnie cenne w przypadku prac nad tzw. nanomateriałami. W pracy zostaną przedstawione wyniki analiz wykonanych dla próbki kompozytu termoutwardzalnego – SMC (sheet moulder composite), przeprowadzonych z wykorzystaniem mikroskopii sił atomowych oraz mikrotomografii komputerowej, odniesione do wykonanych zgodnie z wymaganiami normy testów odporności na udarność. Uzyskane wyniki pozwalają stwierdzić przydatność wysokorozdzielczych technik diagnostycznych w badaniach wpływu promieniowania świetnego na powierzchnię materiału.
The evaluation of the solar radiation influence on the mechanical properties of the material is one of the most popular investigation methods among various environmental tests, mentioned in standards related to various devices and components utilized in electrotechnics. The development of the high-resolution diagnostic methods allowed to perform much more detailed analysis of the influence of the environmental factors on the mechanical properties of the surface. Such tools can be particularly useful in case of the nanomaterials development. In this work we present the analysis of the solar radiation caused degradation of the SMC material - sheet moulder composite, investigated with atomic force microscopy and micro computer tomography. Obtained results were compared to the outcome of the measurements of the impact strength tests. The measurement data allow to confirm the usability of the high-resolution diagnostic methods in the determination of the influence of the solar radiation on the surface of the material.
Źródło:: Prace Instytutu Elektrotechniki; 2012, 259; 63-64
0032-6216
Pojawia się w:: Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Utilization of AFM mapping of surfaces mechanical properties in diagnostics of the materials for electrotechnics
Wykorzystanie mapowania właściwości mechanicznych powierzchni technikami AFM w diagnostyce materiałów stosowanych w elektrotechnice
Autorzy:: Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/158826.pdf
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:: mikroskopia sił atomowych
tryb NanoSwing
elektrotechnika
atomic force microscopy (AFM)
time-resolved tapping mode
mechanical properties mapping
nanomaterials
material science
Opis:: Atomic force microscopy (AFM) is one of the most powerful diagnostic methods used in micro- and nanoscale imaging of the topography and various physical properties of the surface. As this method involves the scanning tip/sample interaction, it is possible to observe the response of the surface on periodically changing load causing by the scanning tip. By utilizing so called time-resolved tapping mode, we could perform the mapping of the surface's mechanical properties: stiffness, adhesion, energy dissipation and others. In this paper we present the idea of the NanoSwing imaging technique developed at Electrotechnical Institute, Division of Electrotechnology and Materials Science in Wrocław as well as the examples of the measurement results.
Mikroskopia sił atomowych (AFM) jest jedną z najbardziej zaawansowanych technik diagnostycznych w mikro- i nanoskali, stosowaną w procesie obrazowania topografii oraz różnych właściwości fizycznych powierzchni. Wykorzystanie oddziaływania ostrze skanujące-próbka umożliwia obserwację odpowiedzi materiału na okresowe zmiany nacisku wywoływane przez ostrze, dzięki czemu możliwa jest ocena właściwości mechanicznych próbki. Zastosowanie trybu dynamicznego z analizą oscylacji skrętnych belki skanującej w domenie czasu, umożliwiło wykonywanie mapowania takich parametrów jak: sztywność, adhezja, rozpraszanie energii i inne. W niniejszej pracy zaprezentowano koncepcję działania trybu NanoSwing opracowanego we wrocławskim oddziale Instytutu Elektrotechniki. Przedstawiono także przykładowe wyniki pomiarów wykonanych z wykorzystaniem tego trybu.
Źródło:: Prace Instytutu Elektrotechniki; 2011, 253; 15-25
0032-6216
Pojawia się w:: Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Informacja

Wyszukujesz frazę "microscopy" wg kryterium: Temat

Źródło danych

Dostawca treści

Kolekcja

Rok wydania

Wydawca

Temat

Autor

Typ dokumentu

Język