Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Endo, H." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Electronic Phase Transition in Layered Materials 1T-TaS$\text{}_{x}$Se$\text{}_{2-x}$ Probed by Cryogenic STM/STS
Autorzy:
Hasegawa, T.
Shiino, O.
Yamaguchi, W.
Endo, T.
Sugawara, H.
Kitazawa, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1968713.pdf
Data publikacji:
1998-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
71.30.+h
71.20.-b
Opis:
A metal-insulator transition, Mott transition, in layered materials 1T-TaS$\text{}_{x}$Se$\text{}_{2-x}$ was investigated by cryogenic scanning tunneling microscopy/ spectroscopy. At 77 K, tunneling spectra in the insulating phase showed a conduction band with almost half filling, which becomes narrower as x decreases. Around the transition point x≈1.4 at 77 K, we observed a sign of gap opening without an overshooting peak at zero bias, supporting the Mott localization picture in which a carrier number vanishes at the transition point. From the site-specified scanning tunneling spectroscopy measurements, furthermore, electrons were found to localize at the charge density wave crest positions. In 1T-TaS$\text{}_{2}$, we have also found that both metallic and insulating phases coexist in a nanometer scale just above the transition temperature, 180 K. >From the minimum size of the insulating region, the coherence length of Mott insulating state was evaluated to be≈5 nm.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1998, 93, 2; 297-305
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies