Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Prorok, M." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł:
Modelowanie rozkładu natężenia oświetlenia na powierzchni prowadnicy optycznej współpracującej z luminoforem
Modelling of illuminance distribution on the optical way cooperating with phosphor
Autorzy:
Prorok, M.
Zajkowski, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/378216.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:
luminofor
luminescencja
LED
prowadnica optyczna
Opis:
Luminofory fosforowe stosowane do źródeł półprzewodnikowych współpracują z quasi-monochromatycznym źródłem promieniowania z zakresu barwy niebieskiej i emitują światło białe. Długość fali promieniowania wmuszającego zawiera się w wąskim przedziale absorpcyjnym materiału luminescencyjnego dla którego uzyskiwane są określone parametry barwne. Zmiana charakteru spektralnego promieniowania pierwotnego wpływa na sprawność konwersji oraz parametry kolorymetryczne strumienia wyjściowego uzyskiwanego w wyniku fotoluminescencji. Realizacja układu złożonego z kilku niezależnych emiterów półprzewodnikowych sprzężonych z torem optycznym pozwoli na oświetlenie wybranego fragmentu powierzchni luminoforu oraz sterowanie zakresem widmowym promieniowania wymuszającego. Geometria prowadnicy optycznej powinna zapewnić wysoką sprawność układu, jak również równomierność oświetlanej powierzchni luminoforu. Artykuł przedstawia analizę procesu formowania wiązki świetlnej w torze optycznym, w zależności od jej wymiarów geometrycznych oraz usytuowania źródła promieniowania.
Used for white semiconductor light sources phosphoric phosphors cooperate with quasi–monochromatic blue light source. Forcing radiation wavelength closes in narrow adsorption range of phosphor material for with exact colour parameters are achieved. Primary radiation spectral nature alteration affects conversion efficiency and colorimetric parameters of optical flux obtained by photoluminescence. Realization of the system containing few independent semiconductor emitters coupled with optical path will allow to illuminate selected phosphor surface and control forcing radiation spectral range. Optical way geometry should ensure system high efficiency, as well as illuminated phosphorus surface uniformity. Article presents the analysis of light beam formation process in optical path, depending on its geometrical dimensions and light source location.
Źródło:
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2017, 92; 271-281
1897-0737
Pojawia się w:
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wykorzystanie metody Monte Carlo do określenia niepewności pomiaru mocy optycznej emitera półprzewodnikowego
Utilization of Monte Carlo method for determining the uncertainty of semi-conductor emitter’s optical power measurement
Autorzy:
Prorok, M.
Makal, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/266619.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
metoda Monte Carlo
niepewność pomiaru
rozkład normalny
generacja wyników pomiarowych
Monte Carlo method
measurement uncertainty
normal distribution
measurements generation
Opis:
W artykule przedstawiono sposób wykorzystania metody Monte Carlo do określenia przedziału ufności pomiaru w przypadku wyznaczania wartości mocy optycznej emitera półprzewodnikowego. Na podstawie niewielkiej serii (3-30) pomiarów wartości mocy optycznej w układzie świetlno-optycznym przeprowadzono analizę niepewności wg GUM (Guide Uncertainty Measurement), określając wartość niepewności rozszerzonej. Następnie, wykorzystując silnik matematyczny, przeprowadzono procedurę generacji próbek pomiarowych i wyznaczono przedział rozszerzenia. Na zakończenie, porównano obie metody obliczeniowe i przedstawiono wypływające z niego wnioski.
Monte Carlo method, as the statistic device is widely used even in complex engineering problems and metrology, the algorithms used to evaluate these technical issues base on set of pseudorandom numbers. This paper contains of the way to use Monte Carlo method to generate any number of measurements. Basing on small series of optical power measurements (3-30) in the optical light system, the GUM (Guide Uncertainty Measurement) analysis was performed to estimate extended uncertainty range. Calculated parameter, connected with the final measurement result, specifying measurements scatter is boundary value for procedure initialization in mathematical engine. The method’s usefulness is especially noticeable in case of artificial widening measurements number, which preserve their characteristic normal distribution (the Gauss distribution) in the continuous probability distribution.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2017, 54; 187-190
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Modelowanie strumienia świetlnego luminoforu wymuszonego źródłem halogenowym
Modelling flux phosfor forsed halogen source
Autorzy:
Prorok, M.
Zajkowski, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/376468.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Tematy:
luminofor
luminescencja
LED
sprawność konwersji
Opis:
Luminofory fosforowe stosowane do diod elektroluminescencyjnych współpracują z emiterami półprzewodnikowymi emitującymi promieniowanie z zakresu VIS o fali długości 440-480 nm (barwa niebieska). W artykule przedstawiono pomiary charakterystyk spektralnych dla przypadku, gdy źródłem wymuszającym fotoluminescencje jest żarówka halogenowa o ciągłym widmie promieniowania zbliżonym do rozkładu Plancka. Kształtowanie bryły fotometrycznej powierzchni luminoforu która emituje promieniowanie zbliżone do rozsyłu lambertowskiego należy rozpatrywać jako zbiór punktów świetlnych. Analiza doboru wielkości luminoforu oraz kształtu reflektora współpracującego z powierzchnią emitującą światło prowadzi do określenia sprawności oprawy, kształtu i profilu wiązki wyjściowej. W artykule przedstawiono również model matematyczny konstrukcji świetlno-optycznej współpracującej z luminoforem i odbłyśnikiem parabolicznym oraz wyniki obliczeń symulacyjnych.
Phosphorous used in the light-emitting diode emitters cooperate with the semiconductor emitters emitting VIS radiation of wave length in range 440-480nm (blue). The article shows results of spectral characteristics for the case when the source forcing the photoluminescence is a halogen lamp with a continuous spectrum of radiation close to the Planck spectral distribution. Analysis size phosphor and the shape of the reflector cooperating with a light-emitting surface leads to a determination in efficiency, the shape and profile of the output beam. The paper also presents the mathematical model of lightand- optical cooperating with phosphor and parabolic reflector and the results of calculations lighting system.
Źródło:
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2016, 88; 313-323
1897-0737
Pojawia się w:
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Applicability of equivalent diode models to modeling various thin-film photovoltaic (PV) modules in a wide range of temperature and irradiance conditions
Autorzy:
Prorok, M.
Werner, B.
Żdanowicz, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/378411.pdf
Data publikacji:
2006
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Elektronowej
Tematy:
thin-film photovoltaic
CuInGaSe2
Opis:
In the paper results of fitting of current-voltage (I-V) curves acquired in a wide range of irradiances and temperatures with use of equivalent either single (SEM) or double (DEM) diode model as applied to several commercial thin-film photovoltaic (PV) modules are presented. It is shown that like in case of crystalline silicon PV modules also for CIGS (CuInGaSe2) as well as CdTe thin-film modules both models may be reliably applied whereas in case a-Si (amorphous silicon), whether it is single or multi-junction structure, obtained results can not be accepted as being credible.
Źródło:
Electron Technology : Internet Journal; 2005-2006, 37/38, 6; 1-4
1897-2381
Pojawia się w:
Electron Technology : Internet Journal
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies