Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Pleskacz, W. A." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
The influence of yield model parameters on the probability of defect occurrence
Autorzy:
Rakowski, M.
Pleskacz, W. A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/308643.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
yield model parameters
spot defect
probability of defect occurrence
critical area
Opis:
This paper describes the analysis of the influence of yield loss model parameters on the calculation of the probability of arising shorts between conducting paths in IC's. The characterization of the standard cell in AMS 0.8 žm CMOS technology is presented as well as obtained probability results and estimations of yield loss by changing values of model parameters.
Źródło:
Journal of Telecommunications and Information Technology; 2007, 3; 101-104
1509-4553
1899-8852
Pojawia się w:
Journal of Telecommunications and Information Technology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A 65 nm CMOS Resistorless Current Reference Source with Low Sensitivity to PVT Variations
Autorzy:
Łukaszewicz, M.
Borejko, T.
Pleskacz, W. A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/397920.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
efekt objętościowy
obwody zasilające
napięcie progowe
current reference
65 nm CMOS
body effect
power supply circuits
threshold voltage
Opis:
This paper describes a resistorless current reference source, e.g. for fast communication interfaces. Addition of currents with opposite temperature coefficient (PTC and NTC) and body effect have been used to temperature compensation. Cascode structures have been used to improve the power supply rejection ratio. The reference current source has been designed in a GLOBALFOUNDRIES 65 nm technology. The presented circuit achieves 59 ppm/°C temperature coefficient over range of -40°C to 125°C. Reference current susceptibility to process parameters variation is ± 2.88%. The power supply rejection ratio without any filtering capacitor at 100 Hz and 10 MHz is lower than -142 dB and -131 dB, respectively.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2012, 3, 4; 119-124
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A simple tridimensional processing of acceleration measurements for dynamic movements monitoring of sportsmen
Autorzy:
Neneman, K.
Łuczyk, A. W.
Szostak, S.
Pleskacz, W. A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/397991.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
Tematy:
run
jump
punch
movement
tiredness
acceleration
bieg
skok
uderzenie
ruch
zmęczenie
przyspieszenie
Opis:
Measuring, monitoring and analysis of dynamic movements in sports is becoming more important than ever. Many methods used currently may only be applied in the artificial environment of a laboratory. Other methods require too much processing to be used during a real-time competition. To overcome these difficulties acceleration measurements and a simple method to process them have been proposed. Data processing is based on search and recognition of the characteristic points in the tridimensional representation of acceleration measurements. Three different dynamic movements have been measured: run, jump and punch. The presented results show that the measurements of acceleration and proposed processing may be used to extract movement parameters of a sportsman and monitor the level of his tiredness.
Źródło:
International Journal of Microelectronics and Computer Science; 2016, 7, 2; 47-53
2080-8755
2353-9607
Pojawia się w:
International Journal of Microelectronics and Computer Science
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies