Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Osinniy, V." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Fano Resonance Investigation of PbTe Layers Containing Eu and Gd Ions
Autorzy:
Orlowski, B.
Osinniy, V.
Dziawa, P.
Pietrzyk, M.
Kowalski, B.
Taliashvili, B.
Story, T.
Johnson, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1812243.pdf
Data publikacji:
2008-08
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
79.60.-i
71.20.Mq
Opis:
The Fano resonance photoemission studies of Gd/(Pb, Gd)Te layers using synchrotron radiation were carried out and the electronic structure parameters like binding energies of $Gd^{3+}$ 4f and 5p shells, resonance and antiresonance energies for $Gd^{3+}$ were determined. The presence of $Eu^{3+}$ ions was observed in the (Pb, Eu)Te and (Eu, Gd)Te layers grown by MBE technique. The comparison of data for (Pb, Gd)Te compound with corresponding data for (Eu, Gd)Te and (Pb, Eu)Te layers indicates that we are not able to distinct the $Eu^{3+}4f$ and $Gd^{3+}4f$ electrons contribution to the valence band photoemission spectra because of small content od Gd and similar binding energy values. The key parameters allowing to prove exactly the presence of either $Eu^{3+}$ or $Gd^{3+}$ are the resonance and antiresonance energies which are significantly different for these ions and equal to 143 eV/137 eV and 150 eV/142 eV, respectively.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 114, 2; 351-356
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Valence States of Metal Ions in $La_{0.7}Ce_{0.3}MnO_3$ Thin Films
Autorzy:
Mickevičius, S.
Bondarenka, V.
Grebinskij, S.
Oginskis, A.
Butkutė, R.
Tvardauskas, H.
Vengalis, B.
Orlowski, B.
Osinniy, V.
Pietrzyk, M.
Drube, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1813469.pdf
Data publikacji:
2008-03
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
79.60.-i
71.20.Nr
71.20.Eh
Opis:
We report valence states of ions in $La_{0.7}Ce_{0.3}MnO_3$ thin films grown by a reactive dc magnetron sputtering. The measurements were performed by means of high-energy X-ray photoelectron spectroscopy using synchrotron radiation. It was found that Ce ion in the compound is either in tetravalent or trivalent chemical state, manganese is in divalent, trivalent and tetravalent states, while La ion existing in oxide and hydroxide chemical species is in trivalent state.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 113, 3; 1071-1074
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Fano Resonance of Eu$\text{}^{2+}$ and Eu$\text{}^{3+}$ in (Eu,Gd)Te MBE Layers
Autorzy:
Orlowski, B. A.
Kowalski, B. J.
Dziawa, P.
Pietrzyk, M.
Mickievicius, S.
Osinniy, V.
Taliashvili, B.
Kowalik, I. A.
Story, T.
Johnson, R. L.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2044511.pdf
Data publikacji:
2005-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
79.60.-i
71.20.Mq
Opis:
Resonant photoemission spectroscopy, with application of synchrotron radiation, was used to study the valence band electronic structure of clean surface of (EuGd)Te layers. Fano-type resonant photoemission spectra corresponding to the Eu 4d-4f transition were measured to determine the contribution of 4f electrons of Eu$\text{}^{2+}$ and Eu$\text{}^{3+}$ ions to the valence band. The resonant and antiresonant photon energies of Eu$\text{}^{2+}$ ions were found as equal to 141 V and 132 eV, respectively and for Eu$\text{}^{3+}$ ions were found as equal to 146 eV and 132 eV, respectively. Contribution of Eu$\text{}^{2+}$4f electrons was found at the valence band edge while for Eu$\text{}^{3+}$ it was located in the region between 3.5 eV and 8.5 eV below the valence band edge.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2005, 108, 5; 803-807
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies