Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "61.66.Fn" wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    X-Ray Study of Synthetic Alunite
    Autorzy:
    Paszkowicz, W.
    Dynowska, E.
    Świerkocki, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1931684.pdf
    Data publikacji:
    1994-10
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    61.10.Lx
    61.66.Fn
    Opis:
    Synthetic alunite was obtained by two different synthesis methods. Powder data obtained with a standard Bragg-Brentano geometry of two analyzed samples are reported for a broad angular range. The chemical analysis as well as the unit-cell dimensions indicate that the analyzed alunite is K and Al deficient and contains excess water. A need for high resolution diffraction experiments is expressed.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 1994, 86, 4; 621-627
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Experimental and Theoretical Study of Zircon and Scheelite Phases of $DyVO_4$
    Autorzy:
    Ermakova, O.
    Paszkowicz, W.
    López-Solano, J.
    Muñoz, A.
    Dabkowska, H.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1431671.pdf
    Data publikacji:
    2012-04
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    42.70.Hj
    61.43.Bn
    61.66.Fn
    Opis:
    Polycrystalline zircon-type dysprosium orthovanadate, $DyVO_4,$ prepared from a single crystal grown by slow cooling from $PbO//PbF_2$ flux, was studied by X-ray diffraction. Rietveld refinement provided the following unit cell size and oxygen atom coordinates: a=7.14811(4) Å; c=6.30825(4) Å, V=322.323(3) Å3, y($O^{2-}$)=0.4300(4); z($O^{2-}$)=0.2082(4) which are of a particularly high accuracy and show consistency with earlier reported values. Density functional theory calculations within the generalized gradient approximation for the exchange-correlation energy were also performed, providing values of structure parameters which differ by less than 2% from the experimental ones. The agreement between theory and experiment demonstrates the value of these calculations for understanding the structure of compounds of $RVO_4$ family. In addition, density functional theory calculations were performed for the scheelite-type $DyVO_4$; also for this polymorph the discrepancy with the only known set of lattice parameters is less than 2%. Values of oxygen atom coordinates have not been reported yet for this polymorph; here, the calculated ones are quoted.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2012, 121, 4; 920-927
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Effect of Annealing on the Crystal Structure and Microstructure of Pr Doped $ZrO_{2}-Y_{2}O_{3}$ Nanocrystals
    Autorzy:
    Werner-Malento, E.
    Paszkowicz, W.
    Fidelus, J.
    Godlewski, M.
    Yatsunenko, S.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1550117.pdf
    Data publikacji:
    2010-01
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    61.46.-w
    61.66.Fn
    81.40.-z
    Opis:
    Rare-earth doped nanocrystalline yttria-stabilized zirconia (YSZ, $ZrO_{2}-Y_{2}O_{3}$) is, recently, a subject of studies because of its luminescent properties. The luminescence may be strongly influenced by the crystal structure and microstructure of the material. In this work, the X-ray diffraction study for Pr doped YSZ nanocrystals is presented. The phase composition dependence on the $Y_{2}O_{3}$ content and on heat treatment conditions is quantitatively determined using the Rietveld method and the similarities and differences between the present data for doped samples and earlier reported data for undoped material are discussed. A formation of high symmetry phases (cubic and tetragonal) is observed for high yttria content in agreement with general tendencies observed in literature for undoped samples.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2010, 117, 1; 91-97
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Combined X-Ray Diffraction and Absorption Study οf Crystalline Vanadium-Doped Lithium Disilicate
    Autorzy:
    Paszkowicz, W.
    Wolska, A.
    Klepka, M.
    abd el All, S.
    Ezz-Eldin, F.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1538928.pdf
    Data publikacji:
    2010-02
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    61.43.Fs
    61.66.Fn
    71.20.Ps
    81.05.Je
    Opis:
    Structure of vanadium-doped lithium disilicate, $Li_{2}Si_{2}O_{5}$ (Ccc2 space group) is studied. This crystalline phase is obtained by annealing of the doped lithium disilicate glass for 4 h at 550°C. X-ray diffraction and X-ray absorption near-edge structure analysis indicate location of vanadium atoms at Si sites. the lattice parameters are found to increase isotropically with increasing vanadium content. the valency of vanadium ions is discussed on the basis of X-ray absorption near-edge structure results.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2010, 117, 2; 315-318
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies