Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Mykyychuk, M" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Resistance calibrators for verification of instruments destined for industrial applications
Autorzy:
Mykyychuk, M.
Yatsuk, V.
Ivakhiv, O.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/114226.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
calibration
active imitator
verification
resistance
Opis:
Nowadays, there are some problems corresponding with specifics of industrial instrumentation metrological support, i.e., compatibility ranges of resistance reproducibility in existing calibrators and the measurement range of industrial instrumentation, disability of controlling metrological characteristics in operation mode etc. To solve such problems, the use of active resistance simulators is possible. In the paper, there is presented the proper structure of an industrial resistance calibrator together with the calibrator error analysis.
Źródło:
Measurement Automation Monitoring; 2015, 61, 8; 390-394
2450-2855
Pojawia się w:
Measurement Automation Monitoring
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Increasing metrological autonomy of in-plant measuring systems
Autorzy:
Mykyychuk, M.
Kochan, R.
Kochan, O.
Jun, S.
Stadnyk, B.
Stolyarchuk, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/102200.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
metrological autonomy
in-plant measuring system
measuring equipment
metrological reliability
comparison
calibration
Opis:
The authors offer to solve the problem of providing traceability of measurements by increasing metrological autonomy of in-plant measuring systems. The paper shows the expedience of increasing metrological autonomy by creating a “virtual” reference. There are analysed possible variants of implementation of the “virtual” reference, which will provide high metrological stability of measurements at insignificant additional expenses. The authors point out the necessity of creation of universal technical and programmatic means of mutual comparison for the in-plant measuring systems to increase the reliability of measurements in the conditions of metrological autonomy.
Źródło:
Advances in Science and Technology. Research Journal; 2016, 10, 32; 193-197
2299-8624
Pojawia się w:
Advances in Science and Technology. Research Journal
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies