Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "machined surfaces" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Measurement, modeling and evaluation of surface parameter using capacitive-sensor-based measurement system
Autorzy:
Murugarajan, A.
Samuel, G. L.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221773.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
capacitive sensor
surface roughness
machined surfaces
Opis:
Surface roughness parameter prediction and evaluation are important factors in determining the satisfactory performance of machined surfaces in many fields. The recent trend towards the measurement and evaluation of surface roughness has led to renewed interest in the use of newly developed non-contact sensors. In the present work, an attempt has been made to measure the surface roughness parameter of different machined surfaces using a high sensitivity capacitive sensor. A capacitive response model is proposed to predict theoretical average capacitive surface roughness and compare it with the capacitive sensor measurement results. The measurements were carried out for 18 specimens using the proposed capacitive-sensor-based non-contact measurement setup. The results show that surface roughness values measured using a sensor well agree with the model output. For ground and milled surfaces, the correlation coefficients obtained are high, while for the surfaces generated by shaping, the correlation coefficient is low. It is observed that the sensor can effectively assess the fine and moderate rough-machined surfaces compared to rough surfaces generated by a shaping process. Furthermore, a linear regression model is proposed to predict the surface roughness from the measured average capacitive roughness. It can be further used in on-machine measurement, on-line monitoring and control of surface roughness in the machine tool environment.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2011, 18, 3; 403-418
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies