Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Szczygiel, R." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Readout Electronics for Pixel Detectors in Deep Submicron and 3D Technologies
Autorzy:
Maj, P.
Szczygieł, R.
Gryboś, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/227192.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
hybrid pixel detectors
deep submicron technology
3D
Opis:
We have designed, fabricated in 90 nm technology and tested a prototype ASIC for readout of semiconductor pixel detectors for X-ray imaging applications. The 4mm x 4mm readout IC is working in single photon counting mode and contains a pixel matrix of 1280 readout channels with dimensions of 100 µm × 100 µm each. We present the architecture, the measurement results of this IC and our conclusions. To make this chip more attractive for novel experiments, we need to further increase single pixel functionality and at the same time reduce the pixel area. This leads us to the 3D technology with at least two layers: analogue and digital and additionally the sensor layer. We present the concept of the 3D hybrid pixel chip design with small pixel size and the ability to build a dead-space free large area pixel matrix.
Źródło:
International Journal of Electronics and Telecommunications; 2011, 57, 4; 497-502
2300-1933
Pojawia się w:
International Journal of Electronics and Telecommunications
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Testy systemu do obrazowania cyfrowego umożliwiającego pracę z promieniowaniem X o dużym natężeniu i selekcję energetyczną fotonów
Tests of system for digital imaging with the X-ray of high intensity and selection of photon energy
Autorzy:
Gryboś, P.
Maj, P.
Szczygieł, R.
Świentek, K.
Ramello, L.
Rodriguez, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/153098.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
układy ASIC
detektory krzemowe
techniki obrazowania cyfrowego
ASIC
silicon strip detectors
digital imaging
Opis:
W pracy przedstawiono budowę i wyniki testów zintegrowanego modułu do obrazowania cyfrowego umożliwiającego pracę z promieniowaniem X o dużym natężeniu i selekcje fotonów w zależności od ich energii. Elementem detekcyjnym modułu jest paskowy detektor krzemowy, z którego informacja jest odbierana i przetwarzana przez wielokanałowe specjalizowane układy scalone o architekturze binarnej. Uzyskane wyniki pomiarów 128 kanałowego modułu potwierdzają bardzo dobrą jednorodność poszczególnych kanałów, niski poziom szumów elektroniki odczytu oraz jej poprawną pracę również w przypadku bardzo dużej częstości impulsów wejściowych.
The paper presents construction and tests of integrated module for digital X-ray imaging. This module could work with high X-ray intensity and selects photons according their energy. The module consists of silicon strip detector and ASICs of binary architecture. The measurement results of 128-channel module show its good noise parameters, uniformity of analogue parameters of multichannel ASIC and its possibility to work with high rate of input pulses.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 150-152
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies