Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Yan, J." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-3 z 3
    Tytuł:
    Mechanical touch responses of Arabidopsis TCH1-3 mutant roots on inclined hard-agar surface
    Autorzy:
    Zha, G.
    Wang, B.
    Liu, J.
    Yan, J.
    Zhu, L.
    Yang, X.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/24565.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Agrofizyki PAN
    Tematy:
    mechanical touch response
    mechanical touch simulation
    Arabidopsis
    TCH1-3 gene
    mutant
    root growth
    Źródło:
    International Agrophysics; 2016, 30, 1
    0236-8722
    Pojawia się w:
    International Agrophysics
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    The Microstructural Evolution in HMX Based Plastic-bonded Explosive During Heating and Cooling Process: an in situ Small-angle Scattering Study
    Autorzy:
    Yan, G.
    Tian, Q.
    Liu, J.
    Fan, Z.
    Sun, G.
    Zhang, C.
    Wang, Y.
    Chen, B.
    Gong, J.
    Zhou, X.
    Yang, Z.
    Nie, F.
    Li, J.
    Li, X.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/358618.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Przemysłu Organicznego
    Tematy:
    SANS
    SAXS
    HMX-PBX
    thermal damages
    phase transition
    Opis:
    The thermal damage in octahydro-1,3,5,7-tetranitro-1,3,5,7-tetrazocine (HMX) based plastic-bonded explosive (PBX) was investigated using in situ small-angle neutron and X-ray scattering techniques. The microstructural evolution was quantitatively characterized by the model fitting parameters of total interfacial surface area (Sv) and void volume distribution. The Sv of HMX-PBX decreased markedly above 100 °C, indicating the movement of binder into the voids. After subsequent cooling to room temperature, the scattering intensity increased significantly with increasing storage time, and a new population of voids with average diameter of 20 nm was observed, accompanied by the gradual phase transition of HMX from δ- to β-phase. The experimental results implied that serious damage within the HMX-PBX was developed during storage after heating.
    Źródło:
    Central European Journal of Energetic Materials; 2016, 13, 4; 916-926
    1733-7178
    Pojawia się w:
    Central European Journal of Energetic Materials
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-3 z 3

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies