Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Liu, C.-M." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
High Heat Flux Testing of Doped and Coated Graphite Using High-Intensity Pulsed Ion Beam
Autorzy:
Zhu, X.
Liu, C.
Lei, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1807981.pdf
Data publikacji:
2009-06
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
28.52.Fa
52.59.Mv
81.05.Uw
Opis:
A high-intensity pulsed ion beam (HIPIB) technique is applied to heat flux testing of plasma facing materials for fusion experiment. The HIPIB is generated at a relatively stable power density up to $10^{8}$ W/$cm^{2}$, which covers a heat flux parameter of up to several hundreds MW $m^{-2} s^{1//2}$. Surface morphology and weight loss are examined for doped and coated graphite with HIPIB exposure of 280 MW $m^{-2} s^{1//2}$, being of the same order of thermal loads during off-normal events in future fusion reactors. The work demonstrates a first example utilizing the HIPIB technique to study thermal response of plasma facing materials under fusion relevant thermal loads.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2009, 115, 6; 1177-1179
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Acquisition of the Surface Morphology of Ruled Gratings with a Microscope Objective
Autorzy:
Li, Z.
Ma, L.
Liu, C.
Zhang, M.
Chen, X.
Cheng, C.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1189791.pdf
Data publikacji:
2015-06
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
42.30.Kq
42.87.-d
42.79.Dj
42.40.Kw
Opis:
In this paper, an optical microscope objective with large numerical number is inserted into a Mach-Zehnder interferometer, and this system is adopted to detect the surface morphologies of two ruled transmission gratings with area scale to a micrometer. The object waves transmitting from the gratings interfere with spherical reference wave, and the interferograms constructed are recorded by a high-resolution CCD. The surface maps of the gratings are retrieved from the interferograms, and the results are confirmed by the measurement with an atomic force microscope, with detection errors in nanometer scale. This work provides an optical non-destructive method for precise detection of small-area sophisticated object surfaces with an optical microscope objective.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2015, 127, 6; 1630-1633
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Electronic System Fault Diagnosis with Optimized Multi-kernel SVM by Improved CPSO
Diagnoza uszkodzeń układu elektronicznego z wykorzystaniem Wielojądrowej Maszyny Wektorów Nośnych (SVM) zoptymalizowanej przy pomocy poprawionego algorytmu CPSO
Autorzy:
Guo, Y. M.
Wang, X. T.
Liu, C.
Zheng, Y. F.
Cai, X. B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/300922.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
układ elektroniczny
diagnoza uszkodzeń
maszyna wektorów nośnych
optymalizacja metodą chaosu-roju cząstek
funkcja wielojądrowa
electronic system
fault diagnosis
support vector machine (SVM)
chaos particles swarm optimization
multi-kernel
Opis:
Bezpieczeństwo pracy układów elektronicznych stało się kluczowym zagadnieniem w odniesieniu do złożonych układów o wysokiej niezawodności. Obecnie coraz większy nacisk kładzie się na trafność diagnozy uszkodzeń układów elektronicznych. Na podstawie charakterystyki diagnozy uszkodzeń układów elektronicznych, opracowaliśmy model wielokryterialnej klasyfikacji SVM pozwalający osiągnąć lepszą trafność diagnozy uszkodzeń. Model wykorzystuje funkcję wielojądrową składającą się z kilku bazowych funkcji jądrowych pozwalającą na zwiększenie interpretowalności modelu klasyfikacyjnego. Aby zoptymalizować działanie modelu wielokryterialnej klasyfikacji SVM wykorzystującego funkcję wielojądrową, udoskonaliliśmy algorytm Optymalizacji Metodą Chaosu-Roju Cząstek (CPSO), co pozwoliło osiągnąć optymalne parametry SVM i funkcji wielojądrowej. W poprawionym algorytmie CPSO wzmocniono różnorodność wyszukiwania poprzez wykorzystanie chaotycznej sekwencji generowanej przez zmodyfikowaną mapę tent, a także włączono do standardowego algorytmu PSO efektywną metodę pozwalającą uniknąć przedwczesnej stagnacji oraz uzyskać globalne wartości optymalizacji. Wyniki symulacji diagnozy uszkodzeń systemu elektronicznego pokazują, że proponowany system optymalizacji może być wykorzystywany jako skuteczna metoda umożliwiająca znaczne zwiększenie trafności diagnozy uszkodzeń z wykorzystaniem wielojądrowej SVM.
Electronic systems’ safety operation has become a key issue to complex and high reliability systems. Now more emphasis has been laid on the accuracy of electronic system fault diagnosis. Based on the characteristics of the electronic system fault diagnosis, we design a multi-classification SVMs model to attain better fault diagnosis accuracy, which utilizes multi-kernel function consisting of several basis kernel functions to enhance the interpretability of the classification model. In order to optimize the performance of multi-classification SVMs with multi-kernel, we improve the Chaos Particles swarm Optimization (CPSO) algorithm to achieve the optimum parameters of SVMs and the multi-kernel function. For the improved CPSO algorithm, a modified Tent Map chaotic sequence is used to strengthen the search diversity, and an effective method is embedded to the stander PSO algorithm which can ensure to avoid premature stagnation and obtain the global optimization values. The fault diagnosis simulation results of an electronic system show the proposed optimization scheme is a feasible and effective method and it can significantly improve the fault diagnosis accuracy of the multi-kernel SVM.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2014, 16, 1; 85-91
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies