Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Circuit Test" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Analysis of ARC in a vacuum chamber with an AMF
Analiza łuku w komorze próżniowej w osiowym polu magnetycznym
Autorzy:
Krasuski, K.
Berowski, P.
Dzierżyński, A.
Hejduk, A.
Kozak, S.
Sibilski, H.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/159242.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:
wyłącznik próżniowy
komora próżniowa
próby zwarciowe
osiowe pole magnetyczne
vacuum circuit breaker (VCB)
vacuum chamber (VCBC)
short circuit test (SCT)
axial magnetic field (AMF)
Opis:
Badania komór próżniowych są wykonywane w celu optymalizacji parametrów wyłączników. Głównym celem jest zmniejszenie wymiarów i zwiększenie zdolności łączeniowej w całym zakresie napięć znamionowych wyłączników. W artykule przedstawiono wyniki obliczeń rozkładu indukcji magnetycznej dla dwu rodzajów styków w dwóch konfiguracjach, tj. styków cewkowych typu ¼ zwoja w położeniu bazowym i po obróceniu styku jednego względem drugiego o 45°, jak i styków cewkowych typu ½ zwoja w położeniu bazowym i po obróceniu styku jednego względem drugiego o 90°. Obliczenia wykazały, że obrót styków względem siebie powoduje zmianę rozkładu indukcji na powierzchniach nakładek stykowych. W przypadku styku cewkowego typu ¼ zwoja indukcja magnetyczna maleje. Powierzchnia, na której wartość indukcji osiąga znaczne wartości również maleje dla tego układu stykowego. W przypadku styku cewkowego typu ½ zwoja obrót styku o 90° powoduje powiększenie powierzchni, na której wartość indukcji przekracza 4 mT/kA. Indukcja bowiem rozłożona jest nierównomiernie na powierzchni nakładki stykowej i jej wartość maleje w kierunku krawędzi styku. Należy stwierdzić, że obrót styku jednego względem drugiego powinno się dobierać każdorazowo dla osiągnięcia największego natężenia pola magnetycznego. W obliczeniach dotyczących styków cewkowych typu ¼ zwoja z odstępem międzystykowym 12 mm, założono, że przewodność w całej przestrzeni międzystykowej jest stała i wynika z napięcia łuku. Przy prądzie 25 kA maksymalna indukcja magnetyczna zmienia się od 180 mT na powierzchni nakładki stykowej do 148 mT w środku odległości pomiędzy stykami. W celu zbadania rozkładu łuku pomiędzy stykami wykonano pomiary dla różnych ich typów w rozbieralnej komorze próżniowej przy prądzie zwarciowym do 15 kA. Rozwój łuku dyfuzyjnego badano przy użyciu kamery do zdjęć szybkich. Zmierzono rozkład osiowego pola magnetycznego dla modeli styków cewkowych typu ¼ zwoja z nakładkami o różnych nacięciach, tj. z nacięciami promieniowymi wykonanymi pod kątem 30° w stosunku do promienia styków, z nacięciami w kształcie łuku, oraz dla styków bez nacięć. Styki z nacięciami wykonanymi pod kątem 30° do promienia styku, miały największe na całej powierzchni styków natężenie pola magnetycznego. Podczas pomiarów styki były zwarte przy pomocy centralnego kołka prze-wodzącego. Jak wynika z obliczeń podczas montażu należy zwrócić uwagę na wzajemne usytuowanie styków, aby zapobiec zmniejszeniu wartości pola magnetycznego. W rozbieralnej komorze próżniowej zbadano rozwój łuku dyfuzyjnego w przestrzeni międzystykowej oraz rozkład stóp łuku na powierzchni styków.
Vacuum circuit breaker chambers (VCBC) are subject of a continuous study to optimize parameters of circuit breakers. The aim is to reduce the size and to increase the breaking ability in the whole range of rated voltages. In optimization attention is paid to reach a uniform distribution of the magnetic field over the contact plate surface. The influence of slits in the contact plates, and the rotation angle between contacts upon the magnetic field distribution (MFD) was analyzed. Field tests of different contact sets were made, using a dismountable vacuum chamber. The tests were conducted at short circuit currents up to 15 kA. A high speed video camera was used to monitor the arc developed between contacts.
Źródło:
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2015, 269; 91-99
0032-6216
Pojawia się w:
Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Indirect test circuit for testing high voltage fuses in overload conditions
Układ do zastępczych badań bezpieczników wysokiego napięcia na prądy przeciążeniowe
Autorzy:
Kuraszkiewicz, J.
Bandel, J.
Hejduk, A.
Krasuski, K.
Dzierżyński, A.
Staniszewski, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/158595.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:
bezpieczniki wysokiego napięcia
próba przeciążeniowa
cykl łączeniowy nr 3
metoda dwuźródłowa
przełącznik ultraszybki
high voltage fuse
fast operating switch
current circuit
voltage circuit
Opis:
Próba określenia zdolności wyłączania prądów przeciążeniowych bezpieczników na wysokie napięcie wykonywana w układzie bezpośrednim związana jest z koniecznością długotrwałego obciążenia bezpiecznika dużym prądem w obwodzie wysokiego napięcia. Zamiast układu do badań bezpośrednich można korzystać z układu zastępczego, dwuźródłowego, w którym nagrzewanie bezpiecznika odbywa się w obwodzie niskonapięciowym, a dopalanie w obwodzie wysokiego napięcia. Dla równoważności obu prób konieczne jest dokonanie przełączenia z jednego układu na drugi w możliwie najkrótszym czasie. W artykule opisano również ultra szybki przełącznik, który pozwala na takie przełączenie i pokazano przykładowy przebieg próby.
During direct tests of high voltage fuses in overload conditions, the tested fuse has to carry the rated overload current at the rated voltage for a long enough time to interrupt the overcurrent. These types of tests cannot be done in short circuit laboratories. A short circuit generator cannot be excited for the length of time needed to complete the test. Therefore the indirect test method is often applied. It uses separate current and voltage circuits in sequence: first the fuse is supplied from a low voltage current circuit to conduct a current of the recommended intensity and, at the moment of the current interruption, the fuse is disconnected from the low voltage circuit and switched to a high voltage circuit. To ensure the equivalence of the direct and indirect tests the switching time from the current to the voltage circuit should be as short as possible. This paper describes a fast operating switch for use in such tests.
Źródło:
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2016, 274; 83-87
0032-6216
Pojawia się w:
Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies