Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Czaja, Z." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
A random signal generation method for microcontrollers with DACs
Autorzy:
Czaja, Z.
Kowalewski, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220983.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
noise generators
LFSR
microcontrollers
ADC
DAC
Opis:
A new method of noise generation based on software implementation of a 7-bit LFSR based on a common polynomial PRBS7 using microcontrollers equipped with internal ADCs and DACs and a microcontroller noise generator structure are proposed in the paper. Two software applications implementing the method: written in ANSI C and based on the LUT technique and written in AVR Assembler are also proposed. In the method the ADC results are used to reseed the LFSR after its each full work cycle, what improves randomness of generated data, which results in a greater similarity of the generated random signal to white noise, what was confirmed by the results of experimental research. The noise generator uses only the internal devices of the microcontroller, hence the proposed solution does not introduce hardware redundancy to the system.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2018, 25, 4; 675-687
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na klasyfikatorach neuronowych z dwucentrowymi funkcjami bazowymi
Fault diagnosis of analog multi-stage filters based on two-center basis function neural classifiers
Autorzy:
Kowalewski, M.
Czaja, Z.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/156722.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
klasyfikator neuronowy
mikrokontroler
układ analogowy
neural classifier
microcontroller
analog circuit
Opis:
Przedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do lokalizacji uszkodzeń w wielosekcyjnych torach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerem. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz metody detekcji i lokalizacji uszkodzeń toru analogowego z wykorzystaniem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera. Omówiono konstrukcję klasyfikatora DB oraz metodę wyznaczania jego parametrów na przykładzie wielosekcyjnego toru analogowego złożonego z trzech filtrów dolnoprzepustowych 2-go rzędu o strukturze Sallena-Keya.
The aim of the paper is usage of a classifier with Two-Center Basis Functions for localization of faults in multi-stage filters implemented in electronic embedded systems controlled with microcontrollers. The main idea of self-testing approach is development of a BIST with a set of analog switches located between individual stages of a tested filter. Thanks to multiplexers used in general purpose input/output lines in microcontrollers, a single line can be the output of an excitation signal (eg. a square impulse) or the input of a measured signal applied to an analog-to-digital converter through the analog multiplexer. Details of the measurement procedure as well methods of detection and localization of faults in analog circuits with use of the TCBF classifier implemented in the microcontroller program code are discussed. The construction and a method of obtaining parameters of the TCBF classifier on an exemplary filter consisting of three 2nd order low-pass filters based on the Sallen-Key topology are presented.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 9, 9; 733-736
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies