Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "78.66.Hf" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-5 z 5
Tytuł:
Extra-Low Temperature Growth of ZnO by Atomic Layer Deposition with Diethylzinc Precursor
Autorzy:
Kowalik, I. A.
Guziewicz, E.
Kopalko, K.
Yatsunenko, S.
Godlewski, M.
Wójcik, A.
Osinniy, V.
Krajewski, T.
Story, T.
Łusakowska, E.
Paszkowicz, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2047710.pdf
Data publikacji:
2007-08
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.55.Et
78.66.Hf
81.15.Kk
Opis:
ZnO thin films were grown on silicon substrate by atomic layer deposition method. We explored double-exchange chemical reaction and used very volatile and reactive diethylzinc as a zinc precursor. These enables us to obtain zinc oxide thin films of high quality at extremely low growth temperature (90-200ºC). The films are polycrystalline as was determined by X-ray diffraction and show flat surfaces with roughness of 1-4 nm as derived from atomic force microscopy measurements. Photoluminescence studies show that an edge emission of excitonic origin is observed even at room temperature for all investigated ZnO layers deposited with the diethylzinc precursor.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2007, 112, 2; 401-406
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Structure Dependent Conductivity of Ultrathin ZnO Films
Autorzy:
Snigurenko, D.
Kopalko, K.
Krajewski, T.
Łuka, G.
Gierałtowska, S.
Witkowski, B.
Godlewski, M.
Dybko, K.
Paszkowicz, W.
Guziewicz, E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1403646.pdf
Data publikacji:
2012-12
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
73.61.Ga
78.66.Hf
81.15.Gh
Opis:
Zinc oxide films dedicated for hybrid organic/inorganic devices have been studied. The films were grown at low temperature (100°C, 130C and 200°C) required for deposition on thermally unstable organic substrates. ZnO layers were obtained in atomic layer deposition processes with very short purging times in order to shift a structure of the films from polycrystalline towards amorphous one. The correlation between atomic layer deposition growth parameters, a structural quality and electrical properties of ZnO films was determined.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2012, 122, 6; 1042-1044
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
(Zn,Cu)O Films by Atomic Layer Deposition - Structural, Optical and Electric Properties
Autorzy:
Łukasiewicz, M.
Witkowski, B.
Wachnicki, Ł.
Kopalko, K.
Gierałtowska, S.
Wittlin, A.
Jaworski, M.
Guziewicz, E.
Godlewski, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1492571.pdf
Data publikacji:
2011-12
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.Ln
68.55.Nq
78.66.Hf
81.15.Kk
Opis:
ZnCuO thin films have been deposited on silicon, glass and quartz substrates by atomic layer deposition method, using reactive organic precursors of zinc and copper. As zinc and copper precursors we applied diethylzinc and copper(II) acetyloacetonate. Structural, electrical and optical properties of the obtained ZnCuO layers are discussed based on the results of scanning electron microscopy, energy dispersive spectroscopy, X-ray diffraction, atomic force microscopy, the Hall effect and photoluminescence investigations.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 120, 6A; A-034-A-036
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Monocrystalline and Polycrystalline ZnO and ZnMnO Films Grown by Atomic Layer Epitaxy - Growth and Characterization
Autorzy:
Wójcik, A.
Kopalko, K.
Godlewski, M.
Łusakowska, E.
Paszkowicz, W.
Dybko, K.
Domagała, J.
Szczerbakow, A.
Kamińska, E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2038164.pdf
Data publikacji:
2004-06
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.Jk
68.55.Ln
68.55.Nq
78.66.Hf
81.15.Kk
Opis:
Recently we demonstrated growth of monocrystalline ZnO films by atomic layer epitaxy in the gas flow variant using inorganic precursors. In this study, we discuss properties of ZnO films grown with organic precursors. Successful Mn doping of the ZnO films during the growth was achieved using the Mn-thd complex. Secondary ion mass spectroscopy and X-ray investigations reveal the contents of Mn up to about 20% of the cationic component.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2004, 105, 6; 667-673
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Magnetic, Structural, and Optical Properties of Low Temperature ZnMnO Grown by Atomic Layer Epitaxy
Autorzy:
Wójcik, A.
Kiecana, M.
Kopalko, K.
Godlewski, M.
Guziewicz, E.
Yatsunenko, S.
Łusakowska, E.
Minikayev, R.
Paszkowicz, W.
Świątek, K.
Wilamowski, Z.
Sawicki, M.
Dietl, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2044552.pdf
Data publikacji:
2005-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.Jk
68.55.Ln
68.55.Nq
78.66.Hf
81.15.Kk
Opis:
Magnetic, structural, and optical properties of ZnMnO films grown with atomic layer epitaxy are discussed. Atomic layer epitaxy films were grown at low temperature using organic zinc and manganese precursors. From magnetometry and electron spin resonance investigations we conclude that lowering of a growth temperature significantly limits formation of Mn precipitates and inclusions of different foreign phases of manganese oxides to ZnMnO host.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2005, 108, 5; 915-921
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-5 z 5

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies