- Tytuł:
-
Komputerowy algorytm identyfikacji szumów RTS
A computing algorithm of multi-level RTS noise identification - Autorzy:
-
Cichosz, J.
Konczakowska, A.
Szatkowski, A. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/268745.pdf
- Data publikacji:
- 2006
- Wydawca:
- Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
- Opis:
-
W referacie przedstawiono algorytm identyfikacji wielopoziomowych szumów RTS {Random Telegraph Signal) w sygnałach szumowych małej częstotliwości oparty na aproksymacji odcinkowo-stałej. Algorytm umożliwia wydzielanie składowej RTS z sygnału szumowego przyrządu półprzewodnikowego. W wyniku zastosowania algorytmu można wyznaczyć wartości poziomów impulsów RTS i ich czasy trwania. Dokładność wydzielenia składowej RTS przeanalizowano badając zgodność z rozkładem Gaussa lej części sygnału szumowego, którą otrzymano po odjęciu składowej RTS zidentyfikowanej z wykorzystaniem zaproponowanej procedury.
A computing algorithm of identification of multi-level RTS noise has been proposed. The procedure makes it possible to extract the RTS component from noise signal which has been recorded. The proposed computing algorithm is the well-processing procedure in the case, if an RTS with noise being analysed decomposes into the sum of the RTS component and the remainder component having the mean value equal to zero, where the arithmetic mean value is calculated on the time intervals being the domains of the successive RTS pulses, and next, if a respectively defined separation condition is satisfied by the successive RTS pulses. With the use of the computing procedure one can find the levels and duration times of the sequence of the successive RTS pulses. One can estimate the accuracy of the extraction of an RTS component of an RTS with noise by analysing the statistical properties of the remainder component, which is expected to be a gaussian noise having zero mean value. Also NSP analyses of the extracted Random Telegraph Signals and of the remainder noise components have been taken into account. The procedure has been used and discussed in examination of the low-frequency noise of the semiconductor devices. - Źródło:
-
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2006, 22; 9-18
1425-5766
2353-1290 - Pojawia się w:
- Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł