Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Lashkarev, G. V." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
XPS and Raman Characterizations of $Zn_{1-x}Cd_{x}O$ Films Grown at the Different Growth Conditions
Autorzy:
Shtepliuk, I.
Khyzhun, O.
Lashkarev, G.
Khomyak, V.
Lazorenko, V.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1403642.pdf
Data publikacji:
2012-12
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.55.Et
78.67.Bf
Opis:
X-ray photoelectron spectroscopy was employed to characterize the surface chemistry and electronic properties of the $Zn_{1-x}Cd_{x}O$ semiconductor systems obtained at the different growth conditions. The effect of the growth conditions on the core and valence band spectra as well as room-temperature photoluminescence of the $Zn_{1-x}Cd_{x}O$ films was investigated and discussed. Behavior of the X-ray photoelectron spectroscopy peaks indicated an increase of the cadmium and a depletion of the oxygen concentrations upon changing the Ar/$O_2$ gas ratio and dc power.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2012, 122, 6; 1034-1038
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
X-Ray Photoelectron Spectroscopy Study of Nitrogen and Aluminum-Nitrogen Doped ZnO Films
Autorzy:
Ievtushenko, A.
Khyzhun, O.
Shtepliuk, I.
Tkach, V.
Lazorenko, V.
Lashkarev, G.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1399119.pdf
Data publikacji:
2013-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
79.60.-i
77.55.hf
68.55.Ln
Opis:
Undoped, nitrogen-doped and aluminum-nitrogen co-doped ZnO films were deposited on Si substrates by magnetron sputtering using layer-by-layer method of growth. X-ray photoelectron spectroscopy was employed to characterize electronic properties of undoped and nitrogen doped ZnO films. The effects of N and N-Al incorporation into the ZnO matrix on the X-ray photoelectron spectroscopy core-level and valence-band spectra of the films were studied and discussed.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2013, 124, 5; 858-861
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Enhancement of the Ultraviolet Luminescence Intensity from Cd-Doped ZnO Films Caused by Exciton Binding
Autorzy:
Shtepliuk, I.
Lashkarev, G.
Khyzhun, O.
Kowalski, B.
Reszka, A.
Khomyak, V.
Lazorenko, V.
Timofeeva, I.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1492932.pdf
Data publikacji:
2011-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.55.Et
78.67.Bf
81.05.Dz
81.07.Bc
Opis:
ZnO films doped with the cadmium (0.4-0.6%) were grown on crystalline sapphire $c-Al_2O_3$ substrates applying radiofrequency magnetron sputtering at the temperature of 400°C in $Ar-O_2$ atmosphere. The as-grown films were investigated in detail using X-ray diffraction, X-ray photoelectron spectroscopy, and cathodoluminescence spectra. The X-ray diffraction analysis revealed that the films possess a hexagonal wurtzite-type structure with the dominant crystallite orientation along the c axis. It was found that the small concentration of the cadmium significantly enhances the ultraviolet emission associated with excitonic transitions. We suggest that this enhancement effect mainly results from appearance of the cadmium isoelectronic traps, which may bind an exciton, thereby increasing the probability of radiation recombination. The effect of Cd isoelectronic impurity on structural and luminescent properties of ZnO films is discussed.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 120, 5; 914-917
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies