Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "44.30.+v" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Direct Ellipsometry Problem for the Substrate-Based Uniaxial Non-Homogeneous Film
Autorzy:
Karpuk, M. M.
Karpuk, S. M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2029257.pdf
Data publikacji:
2001-12
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.20.-e
44.30.+v
Opis:
An iterative procedure of calculation of reflectivities and transmission coefficients of light rays for an uniaxial film with a lapse rate of an index of refraction on a uniaxial substrate was gained by orienting the axis of anisotropy along the normal to the boundary. With its help the dependences of ellipsometric angles Δ and ψ for a linear, quadratic, and sine-shaped profiles of refractive indices of a uniaxial immersing film with optic axis oriented along the normal to the boundary were analyzed. The dependences of angles Δ andψ on quantity of an uptake and anisotropy of the film were also examined. The numerical modelling for ZnO films and Langmuir-Blodgett-like films on a melted quartz was carried out, and this allowed to draw conclusions of practical importance for the ellipsometric investigations of the film structures.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2001, 100, 6; 859-869
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies