Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Jasik, D." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
The Influence of NiCrAlY Coatings Roughness on Oxidation Kinetics During Static Oxidation Test at Temperature 1000ºC And 1100ºC
Wpływ przygotowania powierzchni na kinetykę utleniania warstw typu NiCrAlY pod wpływem statycznego utleniania w temperaturze 1000ºC i 1100ºC
Autorzy:
Niemiec, D.
Moskal, G.
Jasik, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/353011.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
NiCrAlY coatings
oxidation kinetics
surface condition
powłoka NiCrAlY
kinetyka utleniania
stan powierzchni
Opis:
The article presents the results of research related to the impact of pretreatment plasma sprayed NiCrAlY coating on the kinetics of the oxidation. The analysis covered the shell subjected to thermal spraying. The test were performed at a temperature of 1000ºC and 1100ºC the samples were removed from the furnace after 25, 300, 500, 750 and 1000 hours. The investigations range included analysis of top surface of coatings by XRD characterization oxides formed types and microscopic investigations of coatings morphology.
W artykule zaprezentowano wyniki badań odnoszące się do wpływu przygotowania powierzchni natryskanej plazmowo powłoki NiCrAlY na kinetykę jej utleniania. Analiza obejmowała powłoki poddane natryskiwaniu cieplnemu. Testy wykonano w temperaturze 1000ºC i 1100ºC próbki zostały wyjęte z pieca po 25, 300, 500, 750 i 1000 godzinach. Przy analizie stanu warstwy wierzchniej powłok wykorzystano badania dyfrakcyjne określające skład fazowy i badania mikroskopowe umożliwiające ocenę budowy warstwy.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2015, 60, 4; 2671-2680
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Four-point probe resistivity noise measurements of GaSb layers
Autorzy:
Ciura, L.
Kolek, A.
Smoczyński, D.
Jasik, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/201503.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
low frequency noise
GaSb noise
noise measurements
resistance noise calculation
Opis:
This paper concerns measurements and calculations of low frequency noise for semiconductor layers with four-probe electrodes. The measurements setup for the voltage noise cross-correlation method is described. The gain calculations for local resistance noise are performed to evaluate the contribution to total noise from different areas of the layer. It was shown, through numerical calculations and noise measurements, that in four-point probe specimens, with separated current and voltage terminals, the non-resistance noise of the contact and the resistance noise of the layer can be identified. The four-point probe method is used to find the low frequency resistance noise of the GaSb layer with a different doping type. For n-type and p-type GaSb layers with low carrier concentrations, the measured noise is dominated by the non-resistance noise contributions from contacts. Low frequency resistance noise was identified in high-doped GaSb layers (both types). At room temperature, such resistance noise in an n-type GaSb layer is significantly larger than for p-type GaSb with comparable doping concentration.
Źródło:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2020, 68, 1; 135-140
0239-7528
Pojawia się w:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies