Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "ICP-OES" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Diody LED - odpady niebezpieczne dla środowiska
LED diodes - environmentally hazardous waste
Autorzy:
Sokołowska, W.
Karaś, A.
Zalewska, I.
Harasimowicz-Siemko, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/192226.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:
dioda LED
ICP-OES
FAAS
ochrona środowiska
recykling
light-emitting diodes
environmental protection
recycling
Opis:
W Laboratorium Charakteryzacji Materiałów Wysokiej Czystości ITME przeprowadzono analizę składu chemicznego kilku rodzajów diod LED obecnych na polskim rynku [2]. Omówiono zawartość metali kancerogennych oraz metali niebezpiecznych dla środowiska . Porównano je z rezultatami uzyskanymi w UCI (Uniwersytet Kalifornia) opisanymi w [1] i normami TTCL.
An analysis of the chemical composition of several types of light-emitting diodes available on the Polish market was conducted in the Department of High Purity Materials Characterization of ITME [2]. In the course of the analysis, the content of carcinogenic metals and environmentally hazardous metals was explored. The findings were compared with the results achieved at the University of California, Irvine, described in [1], and with TTCL standards.
Źródło:
Materiały Elektroniczne; 2011, T. 39, nr 2, 2; 23-26
0209-0058
Pojawia się w:
Materiały Elektroniczne
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Oznaczanie zawartości Y, Al, Nd oraz zanieczyszczeń w próbkach Y4Al2O9 (YAM) niedomieszkowanych i domieszkowanych neodymem
The determination of Y, Al, Nd and impurities in Y4Al2O9 (YAM) undoped and neodymium-doped samples
Autorzy:
Harasimowicz-Siemko, J.
Karaś, A.
Sokołowska, W.
Dąbrowska, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/192228.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Tematy:
YAM
Y
Al
Nd
oznaczanie zanieczyszczeń
FAAS
ICP-OES
spektrografia
spektrofotometria UV-VIS
determination of impurities
UV-VIS spectrophotometre
spectrograph
Opis:
Celem niniejszej pracy było oznaczenie głównych pierwiastków (Y, Al, Nd) kryształów YAM niedomieszkowanych i domieszkowanych neodymem oraz zanieczyszczeń śladowych. Pierwszym etapem pracy było dobranie odpowiednich warunków pracy urządzenia do mikrofalowego roztwarzania w celu przeprowadzenia próbek do fazy ciekłej. Następnie wykonano analizę jakościową i półilościową z wykorzystaniem spektrografu emisyjnego w celu określenia poziomu zanieczyszczeń. Oznaczono za pomocą FAAS Al i Nd przy zastosowaniu 0,1% chlorku cezu (bufor jonizacyjny) i 0,2% chlorku lantanu (bufor chemiczny) oraz oznaczono itr za pomocą ICP-OES.
The purpose of this study was to determine both the major elements (Y, Al, Nd) of YAM crystals, undoped and doped with neodymium, and impurities. The first stage of the study was the selection of conditions appropriate for microwave digestion in order to transfer the samples to the liquid phase. Then, the qualitative and semiquantitative analysis of the samples using emission spectrography was performed with a view to identifying the level of impurities. The concentration of aluminium and neodymium in YAM samples was determined by FAAS, using 0.1% of cesium chloride (ionization buffer) and 0.2% of lanthanum chloride (chemical buffer). The concentration of yttrium was measured by the ICP-OES method.
Źródło:
Materiały Elektroniczne; 2011, T. 39, nr 2, 2; 26-31
0209-0058
Pojawia się w:
Materiały Elektroniczne
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies