Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "liniowy" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    Sygnaturowy słownik diagnostyczny o niewielkich rozmiarach wykorzystywany w testowaniu połączeń
    Small-size signature-based diagnostic dictionary for testing of interconnections
    Autorzy:
    Garbolino, T.
    Gucwa, K.
    Hławiczka, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/156683.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    testowanie połączeń
    liniowy rejestr pierścieniowy R-LFSR
    słownik diagnostyczny
    interconnect test
    ring LFSR
    diagnostic dictionary
    Opis:
    Przedstawiono nowy sposób redukcji rozmiaru sygnaturowego słownika diagnostycznego (SSD) służącego do detekcji i diagnostyki uszkodzeń statycznych i opóźnieniowych w połączeniach. Testowana magistrala złożona z n linii jest dzielona na b k bitowych fragmentów. Każdy z ww. fragmentów magistrali jest testowany przy użyciu oddzielnego 2k bitowego rejestru pierścieniowego R-LFSR. Procedura testująca obejmuje cztery fazy, w których na przemian pracują parzyste oraz nieparzyste rejestry. Zaproponowane tutaj rozwiązanie pozwala znacznie zmniejszyć wielkość SSD.
    The paper is devoted to a new technique enabling the substantial reduction of the size of a diagnostic dictionary used for detection, localization and identification of static and delay faults in interconnections that are tested with use of ring linear feedback shift registers (R-LFSR). The proposed method assumes that the bus under test comprises n lines and is structured into b fragments of the size of k lines per each fragment. The method also assumes that each of the aforementioned fragments is tested by means of a separate R-LFSR with its length of 2k bits. The example of such a solution is presented in Fig. 1. Moreover, the test procedure is subdivided into four phases in which odd and even R-LFSRs work alternately. Operation modes for individual registers during subsequent phases and their seeds are summarized in Table 1. The proposed way of subdivision of the test procedure makes it possible to get rid of the mutual interference between two adjacent R LFSRs in case of occurring a short-circuit between the feedback lines of these neighbouring registers. Such interactions were the drawback of the previous methods and presented the impediment that prevented the fault dictionary from having its size reduced [2]. The solution that is suggested in this study enables substantially diminishing the dictionary, where its actual size is determined by the multiplicity of r defects within each k-bit part of the connecting bus, even when the bus width n >> k [3, 4].
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 1, 1; 52-54
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Skuteczny generator testów dla przesłuchów w połączeniach
    Effective BIST for Crosstalk Faults in Inter-connects
    Autorzy:
    Rudnicki, T.
    Garbolino, T.
    Gucwa, K.
    Hławiczka, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/154381.pdf
    Data publikacji:
    2009
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    rejestr liniowy
    generator testów
    przesłuchy
    samotestowanie
    system jednoukładowy
    sieć połączeń
    test pattern generator
    crosstalks
    BIST
    LFSR
    SoC
    interconnect net
    Opis:
    W pracy zasygnalizowano konieczność testowania przesłuchów metodą test-per-clock przy pełnej szybkości zegara w sieciach długich połączeń między modułami w jednoukładowych systemach typu SoC. Do generacji testów zaproponowano rejestr LFSR (ang. Linear Feedback Shift Register) z wielomianem pierwotnym oraz z podwojoną liczbą przerzutników, w którym tylko co drugi przerzutnik jest podłączony do testowanej sieci połączeń. Przeprowadzono eksperymenty symulacyjne sprawdzające skuteczność ich wykorzystania do testowania przesłuchów objawiających się albo chwilowym zakłóceniem (szpilką) albo opóźnieniem zbocza.
    The paper is devoted to a test-per-clock method of an at-speed testing of crosstalk faults in long interconnects between cores in a System-on-a-Chip. A LFSR composed of 2n flip-flops and implementing primitive polynomial was used as a Test Pattern Generator (TPG) for an interconnect network comprised of n nets. In our approach every second output of the LFSR is connected to the Interconnect Network Under Test. Simulation-based experiments were carried out to verify effectiveness of vector sequences produced by the proposed TPG in detection of crosstalk faults provoked at victim net by simultaneous occurrence of rising (falling) edges 01(10) at k aggressor lines. Crosstalk faults causing occurrence of a positive (negative) glitch at a victim line having constant value 00(11) as well as ones that lead to delaying an edge with an opposite direction 10(01) at a victim line were taken into consideration. The experimental results show that for n ? {8,12,16,20,24,28,32} and k << n all above-mentioned crosstalk faults can be detected by a test sequence having an acceptable length.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2009, R. 55, nr 7, 7; 432-434
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Testowanie dynamicznych uszkodzeń typu przesłuchy w sieciach połączeń przy użyciu rejestrów pierścieniowych R-LFSR
    On the use of a ring LFSR for testing crosstalk faults in interconnect networks
    Autorzy:
    Hławiczka, A.
    Gucwa, K.
    Garbolino, T.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/151798.pdf
    Data publikacji:
    2009
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    rejestr liniowy
    rejestr pierścieniowy
    generator testów
    przesłuchy
    samotestowanie
    sieć połączeń
    test pattern generator
    crosstalks
    BIST
    LFSR
    R LFSR
    interconnect net
    Opis:
    W pracy przedstawiono nową metodę wykrywania przesłuchów w połączeniach. Testowaniu poddaje się tylko te połączenia FPGA, które będą wykorzystywane przez docelową aplikację. Zaproponowana struktura testera wbudowanego (BIST) wykorzystuje rejestr pierścieniowy 3n R LFSR, który w swojej części odpowiedzialnej za generowanie par testowych ma podwojoną liczbę przerzutników. Do testowanej sieci n połączeń jest podłączony tylko co drugi przerzutnik. Taka struktura generuje wszystkie pary niezbędne do pobudzenia przesłuchów co jest niemożliwe w klasycznej strukturze R-LFSR. Eksperymenty potwierdziły skuteczność testera BIST w pobudzaniu określonych przesłuchów.
    A new method of detection of crosstalk faults is presented in the paper. An interconnect network employed by a target application is a sole subject of the test. The detection of crosstalk fault requires stimulation of the interconnect network under test (INUT) with two consecutive test patterns. The test patterns have to be applied to inputs of the INUT at a nominal clock frequency. So using the Built In Self Test (BIST) is a must. The proposed BIST structure is based on a ring register called 3n R LFSR (Fig.1). In contrast to a typical ring register, the 3n R LFSR contains a double number 2n of flip flops in its part that is responsible for two test pattern generation. The n lines of the INUT are fed from the outputs of every second flip flop of that part of the register. Such structure of the BIST is capable of generating all two test patterns that are required to stimulate crosstalk faults in the INUT, which is impossible in the case of a classical R LFSR. At the beginning of a test session the 3n-R-LFSR is seeded with a chosen value. After g clock cycles the final state (signature) is read. In more complex cases crosstalk can be observed only if a number k of lines being aggressors change their state simultaneously. The experiments proved that for k << n it is possible to find the initial seed being the beginning of a test sequence, that stimulate all required crosstalks. The length of the test sequence and simulation time ? necessary for finding initial seed is acceptable (Tab. 3).
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2009, R. 55, nr 8, 8; 572-574
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Zastosowanie liniowych rejestrów pierścieniowych do testowania połączeń w układach FPGA
    On Application of Ring Linear Feedback Shift Registers to Testing of Interconnects in FPGAs
    Autorzy:
    Hławiczka, A.
    Gucwa, K.
    Garbolino, T.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/156314.pdf
    Data publikacji:
    2008
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    liniowy rejestr pierścieniowy
    testowanie połączeń
    lokalizacja uszkodzeń
    identyfikacja uszkodzeń
    sygnatura
    słownik diagnostyczny
    układ FPGA
    ring linear feedback shift register
    interconnect testing
    fault localization
    fault identification
    signature
    fault dictionary
    field programmable gate array (FPGA)
    Opis:
    Praca poświęcona jest dedykowanemu konkretnej aplikacji testowaniu połączeń w układach FPGA. Na czas testowania komórki układu FPGA wchodzące w skład realizowanej aplikacji są przekształcane w elementy układu RL-BIST. Do budowy takiego układu został wybrany pierścieniowy rejestr LFSR, którego n pętli sprzężeń zwrotnych jest w trakcie testowania liniami testowanej magistrali połączeń. Na podstawie sygnatury otrzymanej w układzie RL-BIST stwierdza się czy testowana magistrala połączeń jest sprawna a w oparciu o słownik diagnostyczny można także zlokalizować uszkodzone połączenia oraz zidentyfikować typ uszkodzenia. Skuteczność zaproponowanej metody testowania połączeń w FPGA została poparta obszernymi wynikami eksperymentalnymi.
    Due to rapidly growing complexity of FPGA circuits application-dependent techniques of their testing become more and more often exploited for manufacturing test instead of application'independent methods. In such the case not all but only a part of FPGA resources (i.e. CLBs and interconnects) is a subject of testing - the part that is to be used by the concrete target application. The work is devoted to application-dependent testing of interconnects in FPGA circuits. For the test period the CLBs being the parts of the application are reconfigured so they implement elements (i.e. XOR gates and D-type flip-flops) of a RL-BIST structure based on a ring linear feedback shift register (R-LFSR). FPGA interconnections under test (IUTs) or at least their part are feedback lines of the R-LFSR. The R-LFSR is first initialised with a randomly chosen seed and than run for several clock cycles. Next the final state of the R-LFSR - a signature - is red by an ATE (Automatic Test Equipment). The value of the signature determines whether IUTs are fault free or faulty. Moreover, on the basis of the signature and with the use of a fault dictionary one may localise faulty interconnections in the FPGA and identify types of faults. The FPGA is afterwards reconfigured so the other set of IUTs becomes feedback lines of the R-LFSR. The above procedure is repeated until all FPGA interconnections belonging to the target application are tested. Efficacy of the proposed approach to testing of FPGA interconnects is supported by experimental results.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2008, R. 54, nr 8, 8; 594-597
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies