Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Li, Zhen" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Experimental study of non-measured points on surface measurement using structured illumination microscopy
Autorzy:
Li, Zhen
Gröger, Sophie
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2173900.pdf
Data publikacji:
2022
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
non-measured points
structured illumination microscopy
areal surface texture parameters
measurement uncertainty
Opis:
Non-measured points (NMPs) are one of vital problems in optical measurement. The number and location of NMPs affect the obtained surface texture parameters. Therefore, systematic studying of the NMP is meaningful in understanding the instrument performance and optimizing measurement strategies. This paper investigates the influence of measurement settings on the non-measured points ratio (NMPR) using structured illumination microscopy. It is found that using a low magnification lens, high exposure time, high dynamic range (HDR) lighting levels, and low vertical scanning interval may help reduce the NMPR. In addition, an improved approach is proposed to analyze the influence of NMP on areal surface texture parameters. The analysis indicates that the influence of NMP on some parameters cannot be ignored, especially for extreme height parameters and feature parameters.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2022, 29, 4; 763--778
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Investigation of noise in surface topography measurement using structured illumination microscopy
Autorzy:
Li, Zhen
Gröger, Sophie
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2052124.pdf
Data publikacji:
2021
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
surface topography measurement
measurement noise
uncertainty
structured illumination microscopy
Opis:
Noise is a fundamental metrological characteristic of the instrument in surface topography measurement. Therefore, measurement noise should be thoroughly studied in practical measurement to understand instrument performance and optimize measurement strategy. This paper investigates the measurement noise at different measurement settings using structured illumination microscopy. The investigation shows that the measurement noise may scatter significantly among different measurement settings. Eliminating sample tilt, selecting low vertical scanning interval and high exposure time is helpful to reduce the measurement noise. In order to estimate the influence of noise on the measurement, an approach based on metrological characteristics is proposed. The paper provides a practical guide to understanding measurement noise in a wide range of applications.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2021, 28, 4; 767-779
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies