- Tytuł:
-
Testy odporności urządzeń na szybkie elektryczne stany przejściowe EFT/B
Device immunity tests against electrical fast transient EFT/B - Autorzy:
- Gonscz, D.
- Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/157950.pdf
- Data publikacji:
- 2012
- Wydawca:
- Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
- Tematy:
-
kompatybilność elektromagnetyczna
testy odporności
sieci sprzęgająco-odsprzęgające
electromagnetic compatibility
immunity tests
coupling-decoupling networks - Opis:
-
Praca dotyczy aspektów technicznych badań odporności urządzeń elektronicznych na zaburzenia przepięciowe typu BURST. Scharakteryzowano procedurę badań oraz wymaganą aparaturę laboratoryjną. Wykonano analizy symulacyjne układów sieci sprzęgająco-odsprzęgających, celem zbadania ich skuteczności w zakresie poprawności działania obwodów odsprzęgania oraz w celu poznania ich parametrów metrologicznych.
The paper deals with the technical aspects of immunity tests of electronic devices against electrical fast transient (BURST). The setup of standard laboratory stand and a basic parameters of instruments are presented in paper (§2). The test procedures are described in chapter 3. The required test levels for AC and DC power lines and for interface or signal lines are shown in the Table 1. A construction of BURST clamp is presented in the Fig. 3. This clamp is made by the author of paper. The effectiveness and main properties (metrology parameters) of decoupling circuits of coupling-decoupling networks are analyzed (§4). One of typical structure of coupling-decoupling network (CDN) is characterized in this chapter. The diagram of analyzed CDN is shown in the Fig. 4. Research range embrace computer simulations. The voltage courses on terminal "+", "- ", PE of EUT for test level š 2 kV and a voltage courses on terminal "+" of source 24 VDC are presented in the Fig. 5 and Fig. 6. These courses are examples of carried analyses. Conclusions and the most important practical hints are pointed (§5). The research confirms efficiency of decoupling circuits for standard coupling-decoupling networks. The some problems for tests with use of clamp coupling are explained. The problems with interpretation of immunity test results are discussed. - Źródło:
-
Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 9, 9; 805-808
0032-4140 - Pojawia się w:
- Pomiary Automatyka Kontrola
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł