Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Nowakowski, Lukasz" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
An assessment of applicability of the two-dimensional wavelet transform to assess the minimum chip thickness determination accuracy
Autorzy:
Gogolewski, Damian
Makieła, Włodzimierz
Nowakowski, Łukasz
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1849153.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
wavelet analysis
face milling
minimum chip thickness
surface texture
Opis:
The objective of the study was to assess the potential use of optical measuring instruments to determine the minimum chip thickness in face milling. Images of scanned surfaces were analyzed using mother wavelets. Filtration of optical signals helped identify the characteristic zones observed on the workpiece surface at the beginning of the cutting process. The measurement data were analyzed statistically. The results were then used to estimate how accurate each measuring system was to determine the minimum uncut chip thickness. Also, experimental verification was carried out for each mother wavelet to assess their suitability for analyzing surface images.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2020, 27, 4; 659-672
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies