Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "fault simulation" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-3 z 3
    Tytuł:
    Fail-bounded implementations of the numerical model predictive control algorithms
    Autorzy:
    Gawkowski, P.
    Lawryńczuk, M.
    Marusak, P.
    Sosnowski, J.
    Tatjewski, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/970227.pdf
    Data publikacji:
    2010
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Badań Systemowych PAN
    Tematy:
    dependability
    fault simulation
    robust process control
    GPC
    Opis:
    Methods of fault-hardening software implementations of the numerical Model Predictive Control (MPC) algorithms are discussed in the paper. In particular, Generalized Predictive Control (GPC) algorithms are considered. The robustness of these algorithms with respect to faults is crucial for process safety and economic efficiency, as faults may result in major control performance degradation or even destabilization. Therefore, fault-hardening of GPC algorithms is an important issue. The fault sensitivity of the non-fault-hardened algorithms implementations and the effectiveness of the fault hardening procedures are verified in experiments with a software implemented fault injector. These experiments refer to the control system of a chemical plant. Experience with fault simulations resulted in some methods of fault-hardening which are described in detail. Improvement of the dependability of the GPC algorithms is commented for each of the proposed fault-hardening mechanism.
    Źródło:
    Control and Cybernetics; 2010, 39, 4; 1117-1134
    0324-8569
    Pojawia się w:
    Control and Cybernetics
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Środowisko do symulacji błędów w układach FPGA
    Fault Injection Framework for FPGA Devices
    Autorzy:
    Pisaniec, K.
    Gawkowski, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153995.pdf
    Data publikacji:
    2009
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    wiarygodność
    testowanie
    symulacja błędów
    układy FPGA
    dependability
    testing
    fault simulation
    FPGA devices
    Opis:
    Z racji znacznego stopnia integracji współczesnych układów VLSI możliwości ich diagnostyki za pomocą tradycyjnych narzędzi są bardzo ograniczone. Wstrzykiwanie błędów umożliwia kompleksowe testowanie systemów komputerowych metodą symulacyjną. W artykule przedstawiono narzędzie automatyzujące symulowanie błędów w układach FPGA. Środowisko umożliwia eksperymentalną ocenę wiarygodności układów, pozwala obserwować i zaburzać sygnały z poziomu mikroarchitektury układu czy bloku sterowania. Badany układ w trakcie testu pracuje z pełną prędkością, co pozwala zminimalizować czas testowania.
    The paper presents JiTO - a new fault injection framework for dependability evaluation of FPGA-based systems modeled in HDL. JiTO consists of PC/Windows application and JFIM - hardware diagnostic block designed in VHDL (Fig. 1). JFIM implements and extends IEEE1149.1-1990 (JTAG) by new mechanisms of hardware breakpoints, internal signals acquisition, support for emulation of external devices, and fault injection (Figs. 1 and 2). It is FPGA-vendor independent. The target device in HDL has to be instrumented with JFIM - highly configurable architecture enables access to any location in a target device and many types of experiments. The device under test operates at normal clock frequency, which ensures high efficiency of the testing process. The whole experiment consists of 3 phases (Fig. 3). The first one is the experiment configuration: selection of state probes, workload for device, definition of test scenario for external interfaces of the target device, workload result definition, and definition of faults. The second phase is collecting probed states of device internal signals during undisturbed, referenced workload execution. The last phase is a series of executions with faults injected (at full device clock speed) - JiTO conducts them automatically, collects selected signal states after fault injection for further analysis and automatically classifies the fault impact on the examined system. Section 5 presents preliminary results of JiTO usage with some benchmarking applications on 8051 microcontroller implementation from Oregano Systems [7] (Tab. 1 and Fig. 4).
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2009, R. 55, nr 8, 8; 645-647
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Gas-flow computer with SBST
    Komputerowy przelicznik przepływu gazu z wbudowanym SBST
    Autorzy:
    Mosdorf, M.
    Grochowski, K.
    Sosnowski, J.
    Gawkowski, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/156571.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    systemy wbudowane
    mikrokontrolery
    symulacja błędów
    niezawodność
    embedded systems
    microcontrollers
    fault simulation
    reliability
    Opis:
    The paper deals with the problem of improving dependability in industrial embedded systems. This problem is considered in relevance to the developed gas flow computer. It is implemented around ARM microcontroller which performs complex measurements and calculations of gas flow with embedded software based self-test mechanisms (SBST) assuring fault detection and fault handling. These mechanisms do not interfere with the normal operation neither in time nor in space. The effectiveness of these approaches has been practically verified in specialised experiments.
    Ostatnio obserwuje się coraz większe zainteresowanie inteligentnymi urządzeniami pomiarowymi. Wykorzystują one bardzo wydajne mikroprocesory lub mikrokontrolery i złożone oprogramowanie. Urządzenia te zwykle pracują w środowisku przemysłowym lub otwartym terenie, gdzie są narażone na różne zakłócenia (elektromagnetyczne, termiczne, niestabilne zasilanie itp.). Stąd istotnym jest zapewnienie dużej wiarygodności ich pracy. Problem ten uwidocznił się w produkowanych przelicznikach gazu ziemnego [9]. Dane producenta wskazują na 8% problemów serwisowych (rozdz. 2). Autorzy podjęli się rozwiązania tego problemu poprzez opracowanie programowych mechanizmów autotestowania (SBST) zintegrowanych z oprogramowaniem operacyjnym urządzeń pomiarowych. Pozwalają one monitorować w sposób ciągły (rys. 1) poprawność pracy urządzenia (rozdz. 3). W szczególności wbudowano mechanizm kontroli poprawności i autonaprawy kodu przelicznika, obsługę sytuacji wyjątkowych, autotestowanie krytycznych procedur spreparowanymi zestawami danych itd. (rozdz. 3). Pozwalają one na detekcję zarówno błędów przemijających (i ograniczone ich tolerowanie) jak i błędów trwałych. Efektywność tego rozwiązania została zweryfikowana przy wykorzystaniu techniki symulacji błędów ([1, 3]) oraz generowanie logów operacyjnych i liczników zastosowanych w nowym prototypie przelicznika. W porównaniu z innymi przelicznikami gazu osiągnięto istotną poprawę wiarygodności (rozdz. 4). Przedstawione mechanizmy mogą być zastosowane również w innych urządzeniach z mikrokontrolerami.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 7, 7; 665-667
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-3 z 3

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies