Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Gorecka, J." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-12 z 12
Tytuł:
Removing physiological artifacts from the EEG data by algorithms based on differential entropy
Eliminacja artefaktów fizjologicznych z zapisu EEG przez algorytmy stosujące entropię różniczkową
Autorzy:
Górecka, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/152185.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
entropia różniczkowa
analiza składowych niezależnych
zapis EEG
differential entropy
independent component analysis
EEG data
Opis:
A new form of the nonlinearity implemented in the ICA approach is presented in the paper. The proposed independent component analysis based on differential entropy can be used for elimination of physiological artifacts from electroencephalographic signals. For verification of the quality of separation of the EEG data, the PI index is proposed. The second measure of accuracy is the normalized kurtosis which can be used in analysis of the simulated EEG data. As it has been proved, the new sigmoid function used in the ICA approach can effectively separate the EEG data.
W artykule przedstawiono nową propozycję nieliniowości - sigmoidalną funkcję algebraiczną, która została zaimplementowana w algorytmie stosującym metodę analizy składowych niezależnych (ang. Independent Component Analysis). Proponowana nowa postać algorytmu wykorzystująca właściwości entropii różniczkowej, może zostać użyta także do separacji a następnie eliminacji wybranych artefaktów fizjologicznych pochodzenia ocznego i mięśniowego zarejestrowanych w zapisach EEG. W celu weryfikacji dokładności separacji sygnałów EEG zaproponowano współczynnik jakości separacji PI (ang. Performance Index). Jako drugą miarę dokładności procesu separacji wybrano wartość znormalizowanej kurtozy, która może być stosowana jedynie w przypadku separacji elektroencefalogramów zarejestrowanych z symulatora EEG. W artykule udowodniono, że użycie nowej funkcji sigmoidalnej w rozszerzonej postaci algorytmu infomax prowadzi do efektywnej separacji sygnałów EEG umożliwiając eliminację wybranych składowych niepożądanych.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 11, 11; 975-977
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wykorzystanie analizy składowych niezależnych do usuwania niepożądanych komponentów z sygnałów EEG
The application of Independent Component Analysis (ICA) approach for removal of undesired components from EEG signals
Autorzy:
Górecka, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/261653.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki. Katedra Inżynierii Biomedycznej
Tematy:
zapis EEG
artefakt
EEG recording
artifacts
Opis:
W artykule przedstawiono analizę składowych niezależ- (ICA) jako narzędzie do separacji i usuwania niepożądanych komponentów z zapisu EEG. Do wykrywania i usuwania artefaktów (mruganie powiek, artefakty mięśniowe) z danych EEG wykorzystano następujące algorytmy: HJ, Cichockiego oraz Infomax.
The Independent Componemnt Analysis (ICA) was applied for separation and removal of undesired components from EEG signals. The following algotithms was exploited.: HJ, Cichocki and Infomax in order to detect and remove some artifacts (eye blinks, muscle activity).
Źródło:
Acta Bio-Optica et Informatica Medica. Inżynieria Biomedyczna; 2009, 15, 1; 87-90
1234-5563
Pojawia się w:
Acta Bio-Optica et Informatica Medica. Inżynieria Biomedyczna
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Usuwanie artefaktów z danych EEG przy użyciu analizy składowych niezależnych
Removal of artifacts from EEG data by means of Independent Component Analysis
Autorzy:
Górecka, J.
Kaszyński, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/158376.pdf
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
ślepa separacja sygnałów
analiza składowych niezależnych (ICA)
sygnały EEG
artefakt
blind signal separation
independent component analysis
EEG data
artifacts
Opis:
Celem przedstawionych wyników badań jest eliminacja wybranych niepożądanych sygnałów przy użyciu analizy składowych niezależnych. W artykule przedstawiono następujące algorytmy BSS (z ang. Blind Signal Separation): HJ oraz Infomax jako narzędzia do separacji i usuwania wybranej grupy artefaktów (mruganie powiek, artefakty mięśniowe) z przebiegów EEG. Jak udowodniono w eksperymentach proponowane algorytmy adaptacyjne mogą efektywnie wykrywać i usuwać wybrane artefakty z przebiegów EEG.
The aim of the performed investigations is to remove selected undesired signals by means of ICA approach. In the paper there are presented the following algorithms BSS (Blind Signal Separation): HJ and Infomax for separation and removal of selected group of artifacts (eye blinks, muscle activity) from EEG recordings. It has been proved in the experiments which are described in the paper that the proposed adaptive algorithms can effectively detect and remove these selected artifacts from EEG recordings.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2008, R. 54, nr 12, 12; 827-830
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
X-Ray and Electron-Optical Characterization of ZnTe/CdTe and ZnTe/GaAs Epitaxial Layers Obtained by the MBE Method
Autorzy:
Auleytner, J.
Dziuba, Z.
Górecka, J.
Pełka, J.
Regiński, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1931657.pdf
Data publikacji:
1994-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.14.Hg
61.10.-i
68.55.-a
Opis:
X-ray diffraction topography (Bragg diffraction) and X-ray rocking curve measurements were used to study the perfection and structural properties of ZnTe epitaxial layers on the CdTe and GaAs substrates. ZnTe epitaxial layers on CdTe were grown by MBE method by using a machine made in the Institute of Physics of the Polish Academy of Sciences. The ZnTe layers on GaAs were produced on the other, factory-made MBE system. The comparison between the X-ray topographical images of the substrate and epitaxial layer shows that imperfections on the substrate surface cause imperfections in the epitaxial layer. The results of double-crystal diffractometry measurements show that the perfection of the layer on the GaAs substrate is higher than that on the CdTe. The presence of microtwining in the ZnTe layer on the CdTe substrate was confirmed by RHEED measurements. The X-ray standing wave fluorescent spectra were also measured for the samples.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1994, 86, 4; 567-574
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Transport and Magnetic Properties of PbTe:Cr and PbSnTe:Cr
Autorzy:
Story, T.
Grodzicka, E.
Witkowska, B.
Górecka, J.
Dobrowolski, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1924220.pdf
Data publikacji:
1992-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
75.50.Pp
72.20.My
Opis:
We present the results of the experimental studies of the low temperature transport and magnetic properties of PbTe, Pb$\text{}_{1-x}$Sn$\text{}_{x}$Te (x ≤ 0.3) and SnTe crystals doped with 0.5 at.% of chromium. Cr was found to be a resonant donor in PbTe and PbSnTe. Magnetic susceptibility measurements revealed that PbTe:Cr and Pb$\text{}_{1-x}$Sn$\text{}_{x}$Te:Cr (x ≤ 0.2) are Curie paramagnets whereas SnTe:Cr exhibits van Vleck paramagnetism.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1992, 82, 5; 879-881
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Study of Si(111) Implanted with As Ions by X-Ray Diffraction and Grazing Incidence Methods
Autorzy:
Pełka, J. B.
Górecka, J.
Auleytner, J.
Domagała, J.
Bąk-Misiuk, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1964119.pdf
Data publikacji:
1997-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.55.Ln
68.55.Jk
Opis:
The Si(111) wafer cut from a bulk single crystal obtained by the Czochralski method was implanted with 5×10$\text{}^{16}$ I cm$\text{}^{-2}$ of As ions of energy 80 keV. The dose applied was chosen above the amorphization limit of the silicon substrate. Two samples, implanted and a reference, were studied by grazing incidence X-ray reflectometry and X-ray diffraction methods using a high resolution Philips MRD system equipped with a Cu source and a channel-cut monochromator. The obtained spectra were compared with distributions of ion range and defect production calculated with TRIM program [1], as well as with theoretical models of reflectivity [2, 3]. The results of grazing incidence X-ray reflectometry reflectivity of the implanted sample show well-pronounced oscillations, which can be associated with a layer about 50 nm thick, approximately comparable to the thickness of the defected layer estimated from the TRIM method. Theoretical calculations of reflectivity clearly indicate an occurrence of a Si layer of electron density lower about 10-15% comparing to the unimplanted Si sample. This can be due to the vacancy production during ion implantation. A comparison of the spectra with a density distribution profile concluded from the TRIM calculations shows large discrepancies. The results indicate the applicability of grazing incidence X-ray reflectometry method in a study of amorphization processes in implanted layers.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1997, 91, 5; 905-910
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Lattice Dynamics of Cubic Mercury Sulphide
Autorzy:
Szuszkiewicz, W.
Dybko, K.
Dynowska, E.
Górecka, J.
Witkowska, B.
Hennion, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1952186.pdf
Data publikacji:
1996-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
62.20.Dc
63.20.-e
Opis:
The acoustic phonon dispersion of mercury sulphide of zinc-blende structure (β-HgS) was studied by inelastic neutron scattering. The measurements were carried out at 19 K and 295 K on HgS crystals doped with Fe. A slight decrease in phonon frequencies with increasing temperature was found, the temperature dependence being the strongest for LA phonons with [ξ,ξ,0] propagation. From acoustic phonon dispersion the values of selected elastic constants were determined for β-HgS.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1996, 90, 5; 947-950
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Elastic Constants of β-HgS
Autorzy:
Prieur, J. Y.
Joffrin, J.
Szuszkiewicz, W.
Dynowska, E.
Górecka, J.
Witkowska, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1992069.pdf
Data publikacji:
1998-09
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
62.20.Dc
64.60.My
Opis:
The elastic constants of single crystals of β-HgS highly doped with iron were directly determined at room temperature from the measurements of ultrasonic wave velocities by the pulse-echo technique. The values of c$\text{}_{11}$=6.750, c$\text{}_{12}$=5.186, and c$\text{}_{44}$=2.42 (given at 10$\text{}^{10}$ N m$\text{}^{-2}$ units) were obtained and compared with the experimental data taken for other mercury chalcogenides. The elastic characteristics of this group of materials is quite similar to those of Cd and Zn chalcogenides.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1998, 94, 3; 487-491
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Selected Properties of Lattice Dynamics of HgSe and β-HgS
Autorzy:
Szuszkiewicz, W.
Dybko, K.
Dynowska, E.
Górecka, J.
Witkowska, B.
Hennion, B.
Jouanne, M.
Julien, C.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1968437.pdf
Data publikacji:
1997-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.30.-j
63.20.-e
61.12.-q
Opis:
Optical phonon dispersion for β-HgS was measured by the neutron scattering for the first time. The results confirmed theoretically predicted anomalous behavior of phonon modes in this material, resulting probably from high ionicity of mercury sulphide and large difference of Hg and S atomic mass. Influence of the isotopic effects on the TO-phonon mode for HgSe and HgS is analyzed. The possible observation of such effects in IR reflectivity spectra taken for HgSe at low temperature is discussed.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1997, 92, 5; 1029-1032
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Fe 3d Contribution to Hg$\text{}_{1-x}$Fe$\text{}_{x}$Se Valence Band by Means of Angle-Resolved Photoemission
Autorzy:
Orłowski, B. A.
Bonnet, J.
Hricovini, C.
Pinchaux, R.
Górecka, J.
Kowalski, B. J.
Mycielski, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1890985.pdf
Data publikacji:
1991-09
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
71.20.Fi
79.60.Eq
Opis:
The Angle-Resolved Photoemission Electron Spectroscopy (AR PES) was applied to investigate the electronic structure of HgSe and Hg$\text{}_{1-x}$Fe$\text{}_{x}$Se crystals for (110) surface. The measured set of Angle-Resolved Energy Distribution Curves (AR EDCs) permits to determine some of the elements of the electronic band structure E(k) (energy-momentum dependence for ҐKX and ҐX directions in the Brillouin zone) for measured crystals. The Fe 3d contribution gives the states lying over the edge of the valence band of HgSe crystal (0.25 eV), and into the valence band.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1991, 80, 3; 389-392
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
X-Ray Characterization of GaAs:Zn Gas-transport Grown Whiskers Using Conventional and Synchrotron Sources
Autorzy:
Paszkowicz, W.
Górecka, J.
Domagała, J.
Dmitruk, N.
Varshava, S. S.
Härtwig, J.
Ohler, M.
Pietraszko, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1964165.pdf
Data publikacji:
1997-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.72.Dd
68.70.+w
Opis:
GaAs:Zn whiskers grown by the gas-transport method are characterized by diffraction methods using white and monochromatic radiation. The methods applied include the white-beam topography at ESRF synchrotron source and Laue patterns, 4-circle Bond diffractometry and high-resolution diffractometry at conventional X-ray sources. The results obtained concern the growth morphology and defect structure. It is found that GaAs:Zn whiskers grown by the described method have the form of long needles and blades of the morphologies represented by growth direction and largest lateral face ⟨112⟩{111} and ⟨111⟩{112}, respectively, with a single exception of a blade of uncommon morphology ⟨111⟩{110}.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1997, 91, 5; 997-1002
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Electron Microscopy and X-ray Structural Investigations of Incommensurate Spin-Ladder Sr$\text{}_{4.1}$Ca$\text{}_{4.7}$Bi$\text{}_{0.3}$Cu$\text{}_{17}$O$\text{}_{29}$ Single Crystals
Autorzy:
Dłużewski, P.
Pietraszko, A.
Kozłowski, M.
Szczepańska, A.
Górecka, J.
Baran, M.
Leonyuk, L.
Babonas, G.-J.
Lebedev, O.
Szymczak, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2014560.pdf
Data publikacji:
2000-12
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.72.Nn
61.72.Mm
74.72.-h
61.16.Bg
61.10.-i
Opis:
Transmission electron microscopy and X-ray diffraction proved chain ladder incommensurate single crystal structure of investigated samples. The incommensurate ratio was determined from the X-ray and electron diffraction being equal to 0.704. Diffuse scattering intensities localised on the planes perpendicular to the c*-axis and passing through the spots originating from the periodicity of chain sublattice were detected. High-angle grain boundary or twinning formed by rotation of 33.3° around [100] direction was observed. High-resolution electron microscopy images revealed the stacking faults in ac planes.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2000, 98, 6; 729-737
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-12 z 12

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies