Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Suchanek, R." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Nature of Donors in SiC
Autorzy:
Suchanek, B.
Dwiliński, R.
Kamińska, M.
Palczewska, M.
Vlaskina, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1872293.pdf
Data publikacji:
1995-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
76.30.Da
Opis:
6H-SiC samples were examined by ESR technique in temperature range from 5 K up to 300 K. Two kinds of ESR lines were observed: a single line at g = 2.0054 ± 0.0007, called X-line, and a triplet corresponding to isolated nitrogen defect. Ionization energy of X defect was determined as about 60 meV and the ionization energy of isolated nitrogen was determined as about 200 meV below SiC conduction band.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1995, 87, 2; 321-324
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
GaN Layers Grown by Reactive Ion Plating
Autorzy:
Żubka, A.
Dwiliński, R.
Suchanek, B.
Janik, W.
Wysmołek, A.
Kwiatkowski, S.
Kamińska, M.
Shaginyan, L.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1943889.pdf
Data publikacji:
1995-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
81.15.Jj
68.55.Gi
Opis:
GaN layers grown on ceramics, sapphire or SiC substrates using reactive ion plating method are presented. In reactive ion plating method gallium from a hot source reacts on a heated substrate with nitrogen partially ionized. Rutherford backscattering technique was applied to check the composition of the samples and gallium to nitrogen ratio was found to be close to one. However, Rutherford backscattering studies showed also a remarkable amount of unintentional impurities present in the layers. The structure of GaN was determined using reflection high-energy electron diffraction. It appeared that polycrystal and monocrystal can be grown, depending on growth conditions. Absorption spectra taken on the layers grown on sapphire showed a tail of band to band absorption starting at about 370 nm. Carrier concentration was of the order of 1019-1020 cm$\text{}^{-3}$ at room temperature and did not change much with temperature decrease. No luminescence from the layers was detected, most probably due to high concentration of impurities.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1995, 88, 5; 1058-1062
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies