Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Liu, Xuan" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Study of a Compton backscattering wall defects detection device using the Monte Carlo method
Autorzy:
Qin, Xuan
Yang, Jianbo
Du, Zhengcong
Xu, Jie
Li, Rui
Li, Hui
Liu, Qi
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/24202748.pdf
Data publikacji:
2023
Wydawca:
Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
Tematy:
compton backscattering
Monte Carlo
nondestructive testing
wall defect
Opis:
In view of the shortcomings of traditional wall defect detection methods, such as small detection range, poor accuracy, non-portable device, and so on, a wall defects detection device based on Compton backscattering technology is designed by Monte Carlo method, which is mainly used to detect the size and location information of defects in concrete walls. It mainly consists of two parts, the source container and the detection system: first, through the simulation and analysis of the parameters such as the receiving angle of thebackscattered particles and the rear collimating material of the detector, the influence of the fluorescent X-ray peak of the detector collimating material on the backscattered particle counts is eliminated and the detected error is reduced; second, the ring array detector design, compared with single array detector and surface array detector, can facilitate real-time detection of defect orientation, expanding the single scan range and improving the detection efficiency. After simulation and comparative analysis, the relevant optimal parameters are obtained: the object is detected using a Cs-137 γ-ray source with an activity of 6 mCi, and a ring detector consisting of four 0.5-inch cube-shaped CsI scintillator detectors is placed at 150° to receive the backscattered photons. The simulation analysis using the Monte Carlo FLUKA program showed that the maximum depth of wall defect detection is 8 cm, the maximum error fl uctuation range of defect depth and thickness is ±1 cm, the overall device weight is <20 kg, and the measurement time is <5 min.
Źródło:
Nukleonika; 2023, 68, 2; 57--63
0029-5922
1508-5791
Pojawia się w:
Nukleonika
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies