Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Siemek, K." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
The detection of reverse accumulation effect in the positron annihilation profile of stack of aluminum and silver foils
Autorzy:
Dryzek, J.
Siemek, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/148620.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
Tematy:
positron implantation profile
stack of foils
Opis:
The implantation profile of positrons emitted from 22Na into a stack of aluminum and silver foils is the subject of the presented report. The characteristic dimple in the profile behind the Ag foil was detected. This effect arises from the differences in the linear absorption coefficient of aluminum and silver. The good agreement between the theoretical profile obtained within the multiscattering model and experimental one was achieved. The observed phenomenon can affect the positron annihilation characteristics measured for the inhomogeneous samples.
Źródło:
Nukleonika; 2015, 60, No. 4, part 1; 713-716
0029-5922
1508-5791
Pojawia się w:
Nukleonika
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The Computer Code for Calculations of the Positron Distribution in a Layered Stack Systems
Autorzy:
Siemek, K.
Dryzek, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1341293.pdf
Data publikacji:
2014-03
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.70.Bj
52.25.Tx
Opis:
In this paper we present experimental and theoretical studies of the implantation profile of positrons emitted from ²²Na radionuclide into layered sample. The measured profile for the nonsymmetrical, around the positron emitter, stack of aluminium and silver foils was measured using the depth scanning of implantation profile technique. For the description of the obtained results two theoretical approaches were applied. The first one was the Monte Carlo simulation using the GEANT4 tool kit. The generated profile does not reproduce accurately the experimental profile. We proposed the multiple scattering model based on the fact that a positron due to backscattering can travel as an energetic particle several times through the whole sample before it annihilates. In this model absorption is also taken into account. The multiple scattering model algorithm was implemented in the LYS-1 program. The calculated profile using the LYS-1 program reproduces the experimental profile with much better accuracy.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2014, 125, 3; 833-836
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Slow Positron Beam Studies of the Stainless Steel Surface Exposed to Sandblasting
Autorzy:
Horodek, P.
Dryzek, J.
Kobets, A.
Kulik, M.
Lokhmatov, V.
Meshkov, I.
Orlov, O.
Pavlov, V.
Rudakov, A.
Sidorin, A.
Siemek, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1336525.pdf
Data publikacji:
2014-03
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.70.Bj
82.80.Yc
61.82.Bg
Opis:
The paper presents slow positron beam studies of the stainless steel grade 304 AISI samples annealed in the flow $N_2$ atmosphere and sandblasted under different pressure from 1 to 7 bar. Heating of specimens caused formation of an additional layer on the surface which can be identified as oxides. Sandblasting reduces the thickness of the oxide layer and also defects concentration (vacancies as we suppose) decreases in dependence on pressure applied during blasting. Additionally, the atomic concentrations of oxygen have been obtained using nuclear methods (Rutherford backscattering and nuclear reactions) in the near surface layers of the studied samples.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2014, 125, 3; 714-717
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies