Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Kireev, A." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
SEM Characterization of Multilayer Structures
Autorzy:
Aristov, V. V.
Dryomova, N. N.
Kireev, V. A.
Razgonov, I. I.
Yakimov, E. B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1924322.pdf
Data publikacji:
1993-01
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
79.20.Fv
68.35.Dv
Opis:
The possibilities of non-destructive multilayer structure characterization using the backscattering electron and modulated cathodoluminescence modes of the SEM have been discussed. It is shown that these techniques allow one to measure the parameters of thin layers of the thickness of about 10 nm.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1993, 83, 1; 81-86
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies