Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Dauksta, E." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Formation of "black silicon" on a surface of Ni/Si structure by Nd:YAG laser radiation
Autorzy:
Medvid', A.
Karabko, A.
Onufrijevs, P.
Dauksta, E.
Dostanko, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/385280.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
Tematy:
black silicon
self-organization
microstructures
Nd:YAG laser
Opis:
We have shown the possibility to form a new type of material known as "black silicon". After irradiation of a Si sample surface, covered with 30 nm thick Ni layer, by Nd: YAG laser beam at intensity 4.5 MW/cm2 the "black silicon" was formed. The formation and self-organization of conelike microstructures on the Ni/Si surface has been detected by scanning electron microscope (SEM). Light is repeatedly reflected between the cones in the way that most of it is absorbed, therefore the surface becomes like a "black body" absorber. The micro-chemical analysis performed on SEM has shown that the microstructures contain NiSi2. This was approved by presence of LO phonon line in Raman back scattering spectrum. The control of micro-cone shape and height was achieved by changing the laser intensity and number of pulses.
Źródło:
Journal of Automation Mobile Robotics and Intelligent Systems; 2009, 3, 4; 140-142
1897-8649
2080-2145
Pojawia się w:
Journal of Automation Mobile Robotics and Intelligent Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies