- Tytuł:
-
Wieloogniskowe wzrokowe potencjały wywołane - problemy metrologiczne oraz korzyści diagnostyczne
Multifocal visual evoked potentials - metrological problems and diagnostic benefits - Autorzy:
-
Hulewicz, A.
Cysewska-Sobusiak, A.
Grzybowski, A. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/153640.pdf
- Data publikacji:
- 2007
- Wydawca:
- Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
- Tematy:
-
badania elektrofizjologiczne
wieloogniskowe wzrokowe potencjały wywołane
przedziały tolerancji
electrophysiological examinations
multifocal visual evoked potentials
tolerance intervals - Opis:
-
Tematyka referatu dotyczy problemów metrologicznych występujących w wieloogniskowych badaniach wzrokowych potencjałów wywołanych (M-VEP) oraz korzyści diagnostycznych wynikających z przeprowadzania tych badań. Przedstawione w referacie wyniki dotyczą rzeczywistych przebiegów M-VEP. Porównano wyniki uzyskiwane w badaniach M-VEP i w badaniach perymetrycznych. Zilustrowano występujące problemy, wskazując w szczególności na wpływ takich czynników jak odpowiednia korekcja wady wzroku, zapewnienie właściwej pozycji podczas badania oraz znaczny rozrzut wyników powstający wskutek tzw. fiksacji oka.
The paper deals with metrological problems connected with multifocal visual evoked potentials (M-VEP) and their diagnostic benefits. The presented results concern some real M-VEP signals which were acquired. Comparison of results obtained during M-VEP examinations with perimeter examinations has been made. The problems to be occurred have been illustrated with special focus on proper correction of sight defects, right position of patients during examination, and significant dispersion of results caused by the so-called eye fixation. - Źródło:
-
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 386-389
0032-4140 - Pojawia się w:
- Pomiary Automatyka Kontrola
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł