Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Chrobak, Łukasz" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Zarys dziejów zjednoczenia rodowego książąt Lubomirskich w latach 1895–1927
An outline of the history of the Family Association of the Princes Lubomirski in 1895–1927
Autorzy:
Chrobak, Łukasz
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/22446666.pdf
Data publikacji:
2022-12-13
Wydawca:
Archiwum Główne Akt Dawnych
Tematy:
Lubomirscy
ród
związek rodowy
rodzina
Nowy Wiśnicz
Lubomirski family
noble house
family union
family
Opis:
Na przełomie XIX i XX w. na ziemiach polskich istniała tendencja zakładania związków rodowych. Ich celem było zacieśnianie więzów rodzinnych, wychowanie w wierze katolickiej oraz wzajemne wspieranie się członków rodu w trudnych sytuacjach. Lubomirscy stworzyli Związek Rodowy Książąt Lubomirskich, który miał na celu podniesienie prestiżu rodu w oczach społeczeństwa. W ciągu kilkudziesięciu lat zakupił i uratował od ruiny zamek w Nowym Wiśniczu oraz kaplicę św. Róży z Limy w Krakowie. Związek został założony z inicjatywy starszej generacji członków rodu. Przed I wojną światową jego prowadzeniem zajęło się młode pokolenie książąt Lubomirskich. Niektórzy członkowie Zjednoczenia Rodowego lekceważyli obowiązki wynikające z członkostwa w związku, ale mimo to Lubomirskim udało się odnieść wiele sukcesów w dziedzinie konserwacji zabytków oraz gromadzenia dokumentów archiwalnych dotyczących dziejów rodu, będącej częścią historii Polski.
At the turn of the nineteenth and twentieth centuries, a trend emerged of establishing family unions in former Polish lands. Their aim was to tighten family ties, promote upbringing in the Catholic faith and ensure mutual support of family members in difficult situations. The Lubomirski family formed the Family Association of the Princes Lubomirski, which aimed to raise the prestige of the family in the eyes of society. Over the course of several decades, the Association purchased and saved from ruin the castle in Nowy Wiśnicz and the Chapel of St Rose of Lima in Kraków. The Association was established at the initiative of the older generation of family members. Before the First World War, its leadership was taken over by the younger generation of the Lubomirski princes. Some members of the Family Association disregarded the duties resulting from their membership in the Association, but despite that, the Lubomirski family managed to achieve a lot of success in the field of historic monuments conservation and collecting archival documents concerning the history of the family, which was a part of Polish history.
Źródło:
Miscellanea Historico-Archivistica; 2022, 29, 29; 85-109
0860-1054
Pojawia się w:
Miscellanea Historico-Archivistica
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Comparative studies of the optical absorption coefficient spectra in the implanted layers in silicon with the use of nondestructive spectroscopic techniques
Autorzy:
Dorywalski, Krzysztof
Chrobak, Łukasz
Maliński, Mirosław
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221542.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
silicon
ion implantation
optical absorption coefficient spectra
modulated free carrier absorption
photo thermal radiometry
ellipsometry
nondestructive techniques
Opis:
This work presents results of comparative studies of the optical absorption coefficient spectra of ion implanted layers in silicon. Three nondestructive and noncontact techniques were used for this purpose: spectroscopic ellipsometry (SE), modulated free carriers absorption (MFCA) and the photo thermal radiometry (PTR). Results obtained with the ellipsometric method are the proof of correctness of the results obtained with the MFCA and PTR techniques. These techniques are usually used for investigations of recombination parameters of semiconductors. They are not used for investigations of the optical parameters of semiconductors. Optical absorption coefficient spectra of Fe+ and Ge+ high energy and dose implanted layers in silicon, obtained with the three techniques, are presented and compared.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2020, 27, 2; 323-337
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies