Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Choi, S." wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    Nondestructive Evaluation of Shoes Bonded Area Defect Composed of EVA Materials
    Autorzy:
    Choi, S.
    Kim, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1399864.pdf
    Data publikacji:
    2013-02
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    81.70.Cv
    81.70.Fy
    81.05.Lg
    87.63.Hg
    Opis:
    The accurate detection of product defects in the assembly line is crucial to any industry. To achieve accurate detection, extensive studies have been conducted, in particular, on the nondestructive inspection technique. Shoe manufacturers, however, have yet to adopt a reliable defect-detection technique for their total inspection system. The deterioration of strength, one of the most common defects found in the shoe manufacturing process, is caused by the delamination in the bonding stage. Inadequate bonding between midsole and insole, the most serious of identified defects, has so far been detected only by cutting a sample shoe and examining it for its strength. For this study, the researcher tested the validity of some nondestructive techniques employed in inspecting shoes, particularly the infrared thermography technique and non contact air coupled ultrasonic testing, which are used to examine the bonded part of shoes made from ethylene vinyl acetate (EVA), the most common material used in manufacturing shoes. The study has thus confirmed the feasibility of applying a total inspection and nondestructive inspection technique to shoe inspection.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2013, 123, 2; 333-336
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Fabrication of Antireflection Structures as a Protective Layer of Solar Cells with Nanoporous Silica Films and Nanoimprinted Moth-Eye Structure
    Autorzy:
    Kim, K.
    Han, J.
    Jang, J.
    Choi, C.
    Choi, S.
    Kim, C.
    Kye, H.
    Cheong, I.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1492625.pdf
    Data publikacji:
    2011-12
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
    Tematy:
    61.46.-w
    68.37.-d
    68.55.-a
    78.20.-e
    Opis:
    The antireflection structures are fabricated by sol-gel process as a protective layer of solar cells and by hot embossing process with anodized aluminum oxide membrane template on polycarbonate film. The optical properties and morphology of the antireflection structures are analyzed by UV-visible spectroscopy and field emission scanning electron microscopy, respectively. The total conversion efficiency of a polycrystalline Si solar cell module with the protective layer, sol-gel-derived nanoporous antireflection structure, is increased by 2.6% and 5.7% for one-side antireflection coated prismatic matt glass and both-side antireflection coated prismatic matt glass, respectively.
    Źródło:
    Acta Physica Polonica A; 2011, 120, 6A; A-047-A-049
    0587-4246
    1898-794X
    Pojawia się w:
    Acta Physica Polonica A
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies