Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "phase measuring profilometry" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
A method for improving the precision of on-line phase measurement profilometry
Autorzy:
Mao, Z
Cao, Y
Zhong, L
Cao, S
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/174406.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
information optics
Stoilov's algorithm
phase measuring profilometry (PMP)
on-line phase measurement profilometry (OPMP)
phase-shifting
pixel matching
Opis:
An on-line phase measurement profilometry based on improved Stoilov’s algorithm is proposed to measure the 3D shape of moving object. While only one frame sinusoidal grating is projected on the moving object, the equal phase-shifting step deformed patterns modulated by profile of the measured object can be captured at every equivalent moving distance of the measured object instead of digital phase-shifting. Stoilov’s algorithm is an equal phase-shifting step algorithm at an arbitrary phase-shifting step, which is suitable for on-line phase measurement profilometry. However, the arbitrary phase-shifting step of Stoilov’s algorithm depends on the captured deformed patterns, in which the digitized errors of digital light projector or CCD camera, and the disturbance of surrounding light could be introduced, it will lead to some abnormities in wrapped phase, such as the denominator in Stoilov’s algorithm could be zero, which could cause the reconstructed 3D profile of the measured object appear burr, distortion or aberration, even could not be reconstructed. So an on-line phase measurement profilometry based on improved Stoilov’s algorithm is proposed. The arbitrary phase-shifting step is retrieved by both pixel matching and fringe cycle calibration rather than the captured deformed patterns. Experiments verify the feasibility and effectiveness of the proposed on-line phase measurement profilometry.
Źródło:
Optica Applicata; 2015, 45, 1; 51-61
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies