Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "micro model" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Suppressing Side-Lobes of Linear Phased Array of Micro-Strip Antennas with Simulation-Based Optimization
Autorzy:
Kozieł, S.
Ogurtsov, S.
Bekasiewicz, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220985.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
linear antenna array
micro-strip antenna array
phased antenna array
antenna optimization
antenna array optimization
simulation-based optimization
surrogate model
Opis:
A simulation-based optimization approach to design of phase excitation tapers for linear phased antenna arrays is presented. The design optimization process is accelerated by means of Surrogate-Based Optimization (SBO); it uses a coarse-mesh surrogate of the array element for adjusting the array’s active reflection coefficient responses and a fast surrogate of the antenna array radiation pattern. The primary optimization objective is to minimize side-lobes in the principal plane of the radiation pattern while scanning the main beam. The optimization outcome is a set of element phase excitation tapers versus the scan angle. The design objectives are evaluated at the high fidelity level of description using simulations of the discrete electromagnetic model of the entire array so that the effects of element coupling and other possible interaction within the array structure are accounted for. At the same time, the optimization process is fast due to SBO. Performance and numerical cost of the approach are demonstrated by optimizing a 16-element linear array of microstrip antennas. Experimental verification has been carried out for a manufactured prototype of the optimized array. It demonstrates good agreement between the radiation patterns obtained from simulations and from physical measurements (the latter constructed through superposition of the measured element patterns).
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2016, 23, 2; 193-203
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies