Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Rajesh, N." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Growth and Characterization of Wide-Gap $Cd_{1-x}Zn_{x}Se$ Ternary Alloys by Using Electron Beam Evaporation Technique
Autorzy:
Suthagar, J.
Rajesh, S.
Perumal, K.
Balasubramaniam, T.
Suthan Kissinger, N.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1538742.pdf
Data publikacji:
2010-03
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
71.55.Gs
61.05.cp
Opis:
$Cd_{1-x}Zn_{x}Se$ films with different zinc content were deposited by electron beam evaporation technique onto glass substrates for the application of solid-state photovoltaic devices. The structural, surface morphological and optical properties of $Cd_{1-x}Zn_{x}Se$ films have been studied in the present work. The host material, $Cd_{1-x}Zn_{x}Se$, has been prepared by the physical vapor deposition method of electron beam evaporation technique under the pressure of 1 × $10^{-5}$ mbar. The X-ray diffractogram indicates that these alloy films are polycrystalline in nature, of hexagonal structure with strong preferential orientation of the crystallites along (002) direction. Linear variation of lattice constant with composition (x) is observed. Surface roughness measured by atomic force microscopy is used to estimate the interface roughness. The optical properties show that the band gap $(E_{g})$ values vary from 2.08 to 2.64 eV as zinc content varies from 0.2 to 0.8. The surface morphological studies show the very small, fine and hardly distinguishable grains smeared all over the surface. The material properties would be altered and excellently controlled by adiusting the system composition x.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2010, 117, 3; 506-511
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies