Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Bąk, T." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł:
Lattice Constant of Doped Semiconductor
Autorzy:
Leszczyński, M.
Litwin-Staszewska, E.
Suski, T.
Bąk-Misiuk, J.
Domagała, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1933910.pdf
Data publikacji:
1995-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.72.Vv
65.70.+y
Opis:
The paper shows an influence of doping on lattice constant of a semiconductor. Three effects are discussed: (i) "size" effect caused by a different ionic radii of dopant and host atoms, (ii) lattice expansion by free electrons proportionally to the deformation potential of the conduction-band minimum occupied by this charge, (iii) different thermal expansion of the undoped and doped samples. The experiments have been performed by using the high resolution X-ray diffraction at 77-770 K on AlGaAs:Te and GaAs:Si.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1995, 88, 5; 837-840
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
MBE Growth and Characterization of Cubic MnTe(111) on BaF$\text{}_{2}$ Substrates
Autorzy:
Janik, E.
Wojtowicz, T.
Dynowska, E.
Bąk-Misiuk, J.
Domagała, J.
Karczewski, G.
Kossut, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1934056.pdf
Data publikacji:
1995-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
75.50.Pp
68.55.Bd
68.55.Jk
Opis:
We report on growth by molecular beam epitaxy of cubic MnTe(111) layers on BaF$\text{}_{2}$ (111) substrates. Layers as thick as 0.2-1.0 μm were grown. Basic characterization by X-ray diffraction shows that the cubic crystal structure is deformed to orthorhombic symmetry.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1995, 88, 5; 982-984
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Characterization and Selected Physical Properties of CdTe/MnTe Short Period Strained Superlattices
Autorzy:
Szuszkiewicz, W.
Dynowska, E.
Bąk-Misiuk, J.
Karczewski, G.
Wojtowicz, T.
Kossut, J.
Jouanne, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1952708.pdf
Data publikacji:
1996-11
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
63.20.-e
78.30.Fs
Opis:
Phonon excitations in (CdTe)$\text{}_{12}$/(MnTe)$\text{}_{n}$ (100) superlattices (n=2, 4, 8) were investigated at 295 K and 25 K with the use of Raman scattering. From the "folded" phonon frequencies the elastic constant c$\text{}_{11}$ value for MnTe was estimated. The strain arising from lattice mismatch (determined by X-ray diffraction) results in shifts of MnTe and CdTe "confined" LO phonon frequencies. For the precise determination of LO phonon dispersions an additional shift due to Mn diffusion at the CdTe/MnTe interface should be taken into account.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1996, 90, 5; 1090-1094
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Cubic MnTe - Growth by Molecular Beam Epitaxy and Basic Structural Characterization
Autorzy:
Zakrzewski, A.
Janik, E.
Dynowska, E.
Leszczyński, M.
Kutrowski, M.
Wojtowicz, T.
Karczewski, G.
Bąk-Misiuk, J.
Domagała, J.
Kossut, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1873112.pdf
Data publikacji:
1995-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
75.50.Pp
68.55.Bd
68.55.Jk
Opis:
We report on growth by molecular beam epitaxy of thick layers of MnTe with zinc blende structure. Films as thick as 5.6 µm were obtained. Characterization by X-ray diffraction proved their good structural quality. We determined the lattice constant and its temperature dependence. Broad luminescence due to internal Mn$\text{}^{2+}$- transitions was observed. It showed an unexpected temperature dependence.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1995, 87, 2; 433-436
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies