Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Lizer, M." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Preparation of Fine-Grained Silicon-Nitride Ceramics and their Characterization by Depth-Sensing Indentation Tests
Autorzy:
Şahin, O.
Güder, H.
Uzun, O.
Şahin, E.
Sopicka-Lizer, M.
Göçmez, H.
Artunc, E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1402391.pdf
Data publikacji:
2015-08
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
62.20.-x
62.20.de
81.05.Je
Opis:
Both pressureless-sintered and dense, fine-grained silicon nitride ceramics were produced from mechanochemically activated nitride-based precursors. Scanning Electron Microscopy (SEM), Transmition Electron Microscopy (TEM), X-Ray Diffraction (XRD) and an ultra-low load microhardness tester were used to characterize these ceramics. Depth-sensing indentation (DSI) tests in the range of 200-1800 mN were performed on the silicon nitride ceramic to determine dynamic hardness (H_d) and reduced elastic modulus (E_r) values. These values were deduced by analyzing the unloading segments of the DSI curves. It was found that both H_d and E_r exhibits a significant indentation load dependence. Nix-Gao (NG) model was used to analyze the dynamic hardness data in the calculation of the load independent hardness value.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2015, 128, 2B; B-355-B-359
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies