- Tytuł:
-
The Analysis Of Structure For The Multi-Layered Of Ge/TiO2 Films Prepared By The Differential Pressure Co-Sputtering
Analiza struktury wielowarstwowych filmów Ge/TiO2 wytwarzanych metodą różnicowo-ciśnieniowego współrozpylania jonowego - Autorzy:
-
Adachi, Y.
Abe, S.
Matsuda, K.
Nose, M. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/354833.pdf
- Data publikacji:
- 2015
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
- Tematy:
-
TiO2
solar cells
sputtering
ogniwa słoneczne
rozpylanie - Opis:
-
We tried to fabricate the Ge/TiO2 composite films with the differential pressure (pumping) co-sputtering (DPCS) apparatus in order to improve the optical properties. In the study, the micro structure of these thin films has been evaluated. TEM image revealed that the thin film was alternately layered with TiO2 and Ge, lattice fringes were observed both of Ge layer and TiO2 layer. There were portions that lattice fringe of Ge was disturbed near the interface of Ge and TiO2. X-ray photoelectron spectroscopy elucidated that there were few germanium oxides and a part with the thin film after annealed.
W pracy przedstawiono rezultaty badań mających na celu wytworzenie warstw kompozytowych Ge/TiO2 wykorzystując aparaturę do różnicowo-ciśnieniowego współrozpylania jonowego (DPCS) w celu poprawy właściwości optycznych. Mikrostruktura warstw została zbadana z zastosowaniem mikroskopii TEM. Analiza TEM wykazała, że cienki film składał się z naprzemiennie ułożonych warstw TiO2 oraz Ge, a dodatkowo zlokalizowano krawędzie sieci przestrzennych Ge i TiO2. Rentgenowska spektroskopia fotoelektronów wykazała niewielkie ilości tlenków germanu oraz występowanie cienkiego filmu po procesie wyżarzania. - Źródło:
-
Archives of Metallurgy and Materials; 2015, 60, 2A; 963-964
1733-3490 - Pojawia się w:
- Archives of Metallurgy and Materials
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki