- Tytuł:
-
Diagnostyka ukladów analogowych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4
Diagnosis of analog electronic circuits with IEEE 1149.4 test bus - Autorzy:
- Bartosiński, B.
- Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/154052.pdf
- Data publikacji:
- 2002
- Wydawca:
- Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
- Tematy:
-
układy analogowe
magistrala testująca sygnałowo - Opis:
-
Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do diagnostyki wybranych struktur analogowych. Diagnostykę przeprowadzano metodą analityczną, opartą na twierdzeniu Tellegana, metodą oscylacyjną oraz metodą opartą na przekształceniu biliniowym. Do badań użyto prototypowych układów scalonych typu MNABST-1 firmy Matsushita wyposażonych w magistralę IEEE 1149.4. We wszystkich przypadkach przedstawiono metodykę testów i wyniki identyfikacji uszkodzeń oraz zakres zastosowań danej metody. Zwrócono uwagę na ograniczenia związane z konstrukcją prototypowych układów MNABST-1.
Results of investigation mixed signal test bus IEEE 1149.4 for diagnosis of analog electronic circuits are presented. Three methods of diagnosis are investigated: computer aided analytical method based on Tellegen`s theorem, oscillation based method and bilinear tranasformation method. The methodology of tests and some results of fault identification are presented. The Matsushita prototype Analog Boundary Test LSI MNABST-1 equipped with IEEE 1149.4 test bus was used in all methods. The attention is turned to the limitations connected with properties of circuits MNABST-1. - Źródło:
-
Pomiary Automatyka Kontrola; 2002, R. 48, nr 7/8, 7/8; 17-20
0032-4140 - Pojawia się w:
- Pomiary Automatyka Kontrola
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł