- Tytuł:
-
Dopasowanie wartości parametrów pomiaru cyfrowego nierówności profilu do charakteru powierzchni przedmiotu
Matching the parameter values of digital measurement to workpiece surface profile irregularities - Autorzy:
- Boryczko, K.
- Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/157754.pdf
- Data publikacji:
- 2010
- Wydawca:
- Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
- Tematy:
-
pomiary powierzchni
warunki pomiaru
struktura geometryczna powierzchni
analiza częstotliwościowa
surface measurement
measurement conditions
surface geometrical structure
frequency analysis - Opis:
-
W pracy przedstawiono dopasowanie parametrów pomiaru do rodzaju powierzchni i analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni toczonych dla celów rozpoznawania ich głównych składowych. Podano zależności parametrów cyfrowych pomiaru nierówności warunkujące ich częstotliwościowe zakresy rozpatrywania. W podsumowaniu podano zakres analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni z dolno- i górnopasmowymi rodzajami ograniczeń oraz wskazówki doboru parametrów pomiaru dla otrzymania właściwego zakresu analizy nierówności powierzchni.
Conditions of measurement, the analogue-to-digital conversion and the frequency analysis of turned surface irregularities for the purpose of its main components identification are presented in the paper. A range of digital parameters have been defined along with their relation to each other, specifying the ranges in which they should be used in order to measure surface irregularity (Tab.1). The parameter values obtained by digital measurement vary within specific ranges, and hence determine the surface irregularities [1, 2, 3]. For this measurement, it is essential to select proper sampling interval hp and the number of measured data N for the value and character of the irregularities measured [4, 5] (Fig.2). The method of frequency analysis for periodical surface irregularities, with the application of power spectral density and the use of fast Fourier transformation (FFT), has been presented in papers [6, 7]. The required conditions for the method presented in this paper, and the possible matching of frequency to wide-band surface irregularities are presented. The maximum frequency of the given irregularity is determined by the value of the sampling interval. Due to this fact, the sampling interval values should be selected in a way to include the low-frequency range of dominant components of the surface irregularity [8] (Fig.3). To summarise, the resulting frequency range of surface irregularities, with high and low-frequency limitations, has been given. Furthermore, the indication of the suitable selection range to capture significant surface irregularities has been included. - Źródło:
-
Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 9, 9; 1063-1066
0032-4140 - Pojawia się w:
- Pomiary Automatyka Kontrola
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł