- Tytuł:
-
Zmodyfikowany generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych
Modified Test Pattern Generator for Delay Faults - Autorzy:
- Rudnicki, T.
- Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/154305.pdf
- Data publikacji:
- 2009
- Wydawca:
- Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
- Tematy:
-
generator par testowych
uszkodzenia opóźnieniowe
rejestr MISR
pary testowe
TPG
delay faults
MISR
test pairs - Opis:
-
W artykule przedstawiono metodę generacji par testowych pobudzających uszkodzenia opóźnieniowe. Źródłem par testowych jest zmodyfikowany rejestr MISR. Modyfikacja rejestru MISR polega na podwojeniu jego długości. Dzięki temu udało się ograniczyć do jednego liczbę słów programujących, a tym samym zrealizować generator par testowych bez jakiejkolwiek pamięci. To spowodowało, że uzyskano podobne rezultaty jak dla generatora par testowych z pamięcią ROM, co jest główną zaletą przedstawionego generatora par testowych.
A method of generating test pairs for delay faults is presented in the paper. A modified MISR register is the source of test pairs. Modification of this register consists in doubling its length (Fig. 3). Test pairs are only generated at a half of the MISR register chosen outputs. Doubling the MISR register makes it possible to generate all possible test pairs, which was proved in the papers [2, 3, 4]. The disadvantage of this solution is too large number of clock cycles. The test pairs for the delay faults include a quite number of don't cares. It enables a considerable reduction of the test pairs. Minimising the number of test pairs means a smaller number of clock cycles at a very high coverage factor of the test pairs. The process of merging the test pairs is shown on example. The number of programming words is limited to only one due to this modification. In consequence, it enables producing a generator of test pairs without ROM. There are presented the experimental results of generating the test pairs for benchmarks of ISCAS'89. The number of benchmark inputs was limited to 32. The results are similar to those for the generator of test pairs with ROM [1, 2, 4] (Fig. 1). The coverage factor is somewhere between 65% and 95% at the sequence length ranging from 160 to 300k clock cycles. The main advantage of this solution is the lack of ROM. - Źródło:
-
Pomiary Automatyka Kontrola; 2009, R. 55, nr 7, 7; 435-437
0032-4140 - Pojawia się w:
- Pomiary Automatyka Kontrola
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł