- Tytuł:
-
Projektowanie testu aplikacyjnego układów pamięci NAND FLASH
Designing application test of NAND FLASH memory - Autorzy:
- Bąk, K.
- Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/208897.pdf
- Data publikacji:
- 2013
- Wydawca:
- Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
- Tematy:
-
diagnostyka
NAND FLASH
wiarygodność
test aplikacyjny
diagnostic
reliability
application test - Opis:
-
Prosta budowa testu aplikacyjnego sprawia, że jest on szeroko stosowany w procesach produkcyjnych. Główną zaletą testu aplikacyjnego jest łatwość jego dopasowania do szeregu różnych urządzeń/podzespołów, posiadających podobny lub identyczny interfejs użytkowy. Natomiast jego podstawową wadą jest ograniczona skuteczność pobudzania błędów. Właściwe zaprojektowanie testu aplikacyjnego gwarantuje możliwie wysoki poziom niezawodności testowanych urządzeń. Nieodzownym etapem projektowania testu aplikacyjnego jest rozpoznanie środowiska pracy testowanego podzespołu oraz urządzenia.
Simple construction of application test causes its frequent usage in manufacturing processes. Its main advantage is how it is easily adjustable to a huge number of devices with similar or identical application interface. However, the main disadvantage of application tests is limited error coverage. Properly designed application test guarantees the highest possible reliability of the tested devices. Integral part of the application test is to recognize the application environment and aforementioned devices, what is the main topic of this article. - Źródło:
-
Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej; 2013, 62, 4; 95-111
1234-5865 - Pojawia się w:
- Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł