- Tytuł:
-
Zastosowanie zobrazowania termograficznego w badaniach urządzeń elektronicznych
Thermographic imaging application in diagnostics of electronic equipment - Autorzy:
- Galla, S.
- Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/269031.pdf
- Data publikacji:
- 2013
- Wydawca:
- Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
- Tematy:
-
termowizja
diagnostyka
badania
thermal imaging
diagnostics
testing - Opis:
-
W artykule przedstawiono możliwosci diagnostyki termowizyjnej w ocenie konstrukcji urzadzen elektronicznych. Zwrócono uwage na zalety i ograniczenia w stosowaniu termowizji jako narzedzia diagnostycznego przy badaniu złożonych urzadzen elektronicznych. Przedstawiono przykłady zastosowania zobrazowania termograficznego umożliwiajacego w ograniczonym czasie szybka i bezposrednia ocene zastosowanych rozwiazan technicznych oraz jakosci komponentów.
The evaluation of design quality of electronic equipment by means of thermographic imaging has been presented in the paper. The benefits and limitations of application of this method as a diagnostic tool for a complex electronic equipment were described. It has been shown in experiments that the thermographic imaging enables in a limited duration the instant and direct assessment of tested equipment and components quality. The capabilities and limitations of the method are discussed referring to the results of measurements both of mass-produced (plant annunciator) and prototype (converter AC/DC dedicated for control-alarm panel) devices. On the basis of test results carried out by means of the video camera VIGOcam v50 the implementation of the method for monitoring and checking of electronic equipment has been proposed. A wide application of this non-contact testing method can be considered in the case of a significant reduction in price of thermal imaging devices. This would allow in a relatively fast way more frequent testing of a Device Under Test (DUT) status. The direction of software development for infrared measurements to create an emission mask and to define an emission factor of tested device automatically (usually not equal for the whole device) to enable more accurate determination of the DUT temperature were postulated. - Źródło:
-
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2013, 34; 25-28
1425-5766
2353-1290 - Pojawia się w:
- Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł