Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "subthreshold" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Ultra-low Power FinFET SRAM Cell with Improved Stability Suitable for Low Power Applications
Autorzy:
Birla, Shilpi
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/226772.pdf
Data publikacji:
2019
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
FinFET
RSNM
WSNM
hold margin
subthreshold
leakage power
Opis:
In this paper, a new 11T SRAM cell using FinFET technology has been proposed, the basic component of the cell is the 6T SRAM cell with 4 NMOS access transistors to improve the stability and also makes it a dual port memory cell. The proposed cell uses a header scheme in which one extra PMOS transistor is used which is biased at different voltages to improve the read and write stability thus, helps in reducing the leakage power and active power. The cell shows improvement in RSNM (Read Static Noise Margin) with LP8T by 2.39x at sub-threshold voltage 2.68x with D6T SRAM cell, 5.5x with TG8T. The WSNM (Write Static Noise Margin) and HM (Hold Margin) of the SRAM cell at 0.9V is 306mV and 384mV. At sub-threshold operation also it shows improvement. The Leakage power reduced by 0.125x with LP8T, 0.022x with D6T SRAM cell, TG8T and SE8T. Also, impact of process variation on cell stability is discussed.
Źródło:
International Journal of Electronics and Telecommunications; 2019, 65, 4; 603-609
2300-1933
Pojawia się w:
International Journal of Electronics and Telecommunications
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
The temperature dependence of subthreshold characteristics of Si and SiC power MOSFETs
Autorzy:
Kraśniewski, J.
Janke, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/118323.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Politechnika Koszalińska. Wydawnictwo Uczelniane
Tematy:
MOSFET
power transistor
subthreshold
temperature dependence
tranzystor mocy
obszar podprogowy
zależność od temperatury
Opis:
In the paper, subthreshold characteristics of Si and SiC MOSFET power transistors in a wide range of current and temperature are considered. Representative examples of measured iD-vGS dependencies for temperatures from 20°C up to over 140°C are presented and discussed. Substantial differences of the shapes obtained for Si and SiC devices are observed. The subthreshold slope and subthreshold swing coefficient are extracted from measured curves for two types of devices and compared.
W niniejszym artykule porównano charakterystyki w obszarze podprogowym tranzystorów mocy MOSFET z krzemu i węglika krzemu w szerokim zakresie prądu i temperatury. Dla reprezentatywnej partii tranzystorów przedstawiono i omówiono pomiary zależności iD-vGS w szerokim zakresie temperatur od 20°C do ponad 140°C. Dodatkowo zaprezentowano różnice w wartości nachylenia oraz wahania współczynnika w obszarze podprogowym od temperatury otoczenia dla badanych tranzystorów z Si i SiC.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej; 2016, 9; 51-58
1897-7421
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies