Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "soft X-ray" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-6 z 6
    Tytuł:
    Conceptual design of Light Impurity Monitor for Wendelstein 7-X
    Autorzy:
    Książek, I.
    Burhenn, R.
    Musielok, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/146640.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
    Tematy:
    plasma spectroscopy
    stellarator
    soft X-ray
    Opis:
    As plasma impurity ions can significantly influence the properties of a fusion plasma by dilution and enhancement of the radiation losses, the process of monitoring of their concentrations is one of the most important tasks. A Light Impurity Monitor is needed for monitoring the contamination of the stellarator plasma by carbon, nitrogen, boron, and oxygen impurities, which are indicators for the overload of the plasma facing components, leakage of the vacuum vessel, or wall condition, respectively. Their concentration will be estimated on the basis of emission intensities of their hydrogen-like ions. In this paper a conceptual design of such a spectrometer is presented, including the description of the geometry, the acquisition system and safety systems.
    Źródło:
    Nukleonika; 2011, 56, 2; 155-160
    0029-5922
    1508-5791
    Pojawia się w:
    Nukleonika
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Wideband spectral emission measurements from laser-produced plasma EUV/SXR source based on a double gas puff target
    Autorzy:
    Arikkatt, Antony Jose
    Wachulak, Przemysław
    Fiedorowicz, Henryk
    Bartnik, Andrzej
    Czwartos, Joanna
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1849155.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    Plasma Spectroscopy
    X-ray coherence tomography
    soft X-ray
    Opis:
    We present spectral emission characteristics from laser-plasma EUV/SXR sources produced by irradiation of < 1 J energy laser pulse on eleven different double stream gas puff targets, with most intense electronic transitions identified in the spectral range from 1 nm to 70 nm wavelength which corresponds to photon energy from 18 eV to 1240 eV. The spectra were obtained using grazing incidence and transmission spectrographs from laser-produced plasma emission, formed by the interaction of a laser beam with a double stream gas puff target. Laser pulses with a duration of 4 ns and energy of 650 mJ were used for the experiment. We present the results obtained from three different spectrometers in the wavelength ranges of SXR (1-5.5 nm), SXR/EUV (4-15.5 nm), and EUV (10-70 nm). In this paper, detailed information about the source, gas targets under investigation, the experimental setup, spectral measurements and the results are presented and discussed. Such data may be useful for the identification of adequate spectral emissions from gasses in the EUV and SXR wavelength ranges dedicated to various experiments (i.e. broadband emission for the X-ray coherence tomography XCT) or may be used for verification of magnetohydrodynamic plasma codes.
    Źródło:
    Metrology and Measurement Systems; 2020, 27, 4; 701-719
    0860-8229
    Pojawia się w:
    Metrology and Measurement Systems
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Second order reflection from crystals used in soft X-ray spectroscopy
    Autorzy:
    Książek, I.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/146093.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
    Tematy:
    soft X-ray
    plasma spectroscopy
    PbSt
    KAP
    Opis:
    In this note the ratio of the second to the first order reflection is determined for the KAP and PbSt crystals, for wavelengths corresponding to the Al K-line emission. The source of the radiation was a low-voltage stabilized X-ray tube. The X-rays were detected with a Bragg spectrometer equipped with a proportional counter detector. The signal measured by the proportional counter was subsequently pulse height analyzed.
    Źródło:
    Nukleonika; 2015, 60, 2; 263-265
    0029-5922
    1508-5791
    Pojawia się w:
    Nukleonika
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Optimization of soft X-ray tomography on the COMPASS tokamak
    Autorzy:
    Imríšek, M.
    Mlynář, J.
    Löffelmann, V.
    Weinzettl, V.
    Odstrčil, T.
    Odstrčil, M.
    Tomeš, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/146251.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
    Tematy:
    soft X-ray
    tomography
    Tikhonov regularization
    tokamak
    Opis:
    The COMPASS tokamak is equipped with the soft X-ray (SXR) diagnostic system based on silicon photodiode arrays shielded by a thin beryllium foil. The diagnostic is composed of two pinhole cameras having 35 channels each and one vertical pinhole camera with 20 channels, which was installed recently to improve tomographic inversions. Lines of sight of the SXR detectors cover almost complete poloidal cross section of the COMPASS vessel with a spatial resolution of 1–2 cm and temporal resolution of about 3 s. Local emissivity is reconstructed via Tikhonov regularization constrained by minimum Fisher information that provides reliable and robust solution despite limited number of projections and ill-conditionality of this task. Improved border conditions and numerical differentiation matrices suppressing artifacts in reconstructed radiation were implemented in the code. Furthermore, a fast algorithm eliminating iterative processes was developed, and it is foreseen to be tested in real-time plasma control.
    Źródło:
    Nukleonika; 2016, 61, 4; 403-408
    0029-5922
    1508-5791
    Pojawia się w:
    Nukleonika
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Investigation of low-temperature plasmas formed in low-density gases surrounding laser-produced plasmas
    Autorzy:
    Majszyk, Mateusz
    Bartnik, Andrzej
    Skrzeczanowski, Wojciech
    Fok, Tomasz
    Węgrzyński, Łukasz
    Szczurek, Mirosław
    Fiedorowicz, Henryk
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/2202566.pdf
    Data publikacji:
    2023
    Wydawca:
    Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
    Tematy:
    extreme ultraviolet
    EUV
    laser plasma
    low pressure
    photoionization
    plasma
    soft X-ray
    SXR
    Opis:
    Low-temperature plasma production is possible as a result of photoionization using high-intensity extreme ultraviolet (EUV) and soft X-ray (SXR) pulses. Plasma of this type is also present in outer space, e.g., aurora borealis. It also occurs when high-velocity objects enter the atmosphere, during which period high temperatures can be produced locally by friction. Low-temperature plasma is also formed in an ambient gas surrounding the hot laser-produced plasma (LPP). In this work, a special system has been prepared for investigation of this type of plasma. The LPP was created inside a chamber fi lled with a gas under a low pressure, of the order of 1–50 mbar, by a laser pulse (3–9 J, 1–8 ns) focused onto a gas puff target. In such a case, the SXR/EUV radiation emitted from the LPP was partially absorbed in the low-density gas. In this case, high- and low-temperature plasmas (Te ~100 eV and ~1 eV, respectively) were created locally in the chamber. Investigation of the EUV-induced plasmas was performed mainly using spectral methods in ultraviolet/visible (UV/VIS) light. The measurements were performed using an echelle spectrometer, and additionally, spatial–temporal measurements were performed using an optical streak camera. Spectral analysis was supported by the PGOPHER numerical code.
    Źródło:
    Nukleonika; 2023, 68, 1; 11--17
    0029-5922
    1508-5791
    Pojawia się w:
    Nukleonika
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Elementy optyczne pracujące w widmowym zakresie obejmującym ultrafiolet próżniowy i miękkie promieniowanie rentgenowskie
    Optical elements for the extreme ultraviolet and soft X-ray range
    Autorzy:
    Wardzińska, Martyna
    Wachulak, Przemysław
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/2203159.pdf
    Data publikacji:
    2022
    Wydawca:
    Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
    Tematy:
    automatyka
    elektronika i elektrotechnika
    optyka rentgenowska
    filtry optyczne
    zwierciadła wielowarstwowe
    siatki dyfrakcyjne
    płytki strefowe Fresnela
    ultrafiolet próżniowy
    miękkie promieniowanie rentgenowskie
    automation
    electronic and electrical engineering
    soft X-ray
    extreme ultraviolet
    optical elements
    optical filters
    multilayer mirrors
    diffraction gratings
    Fresnel zone plates
    Opis:
    W artykule zawarto podstawy fizyczne i przegląd elementów optycznych do pracy w zakresie obejmującym ultrafiolet próżniowy (eUV) oraz miękkie promieniowanie rentgenowskie (SXr). Pierwszy rozdział obejmuje wprowadzenie do analizowanej tematyki i podstawy fizyczne. W drugim rozdziale przedstawione zostały podstawy działania optyki związanej z zakresem eUV/SXr wraz z wyróżnieniem jej wad oraz zalet. W trzecim rozdziale szczegółowo omówiono elementy optyczne, takie jak: filtry optyczne, zwierciadła (m.in. wielowarstwowe), siatki dyfrakcyjne, płytki strefowe Fresnela oraz rozwiązania hybrydowe. rozdział czwarty przedstawia szeroki obszar zastosowań optyki eUV/SXr. W ostatnim rozdziale znajduje się podsumowanie przedstawionych wcześniej informacji.
    The article presents the physical basis and overview of optical elements for the range including extreme ultraviolet (eUV) and soft X-ray (SXr). The first chapter contains an introduction to the subject under review and physical fundamentals. The second chapter presents the basics of optics for the eUV/SXr range, along with highlighting its advantages and disadvantages. The third chapter discusses in detail optical components such as optical filters, mirrors (including multilayers), diffraction gratings, Fresnel zone plates, and hybrid solutions. The fourth chapter presents a wide range of applications of eUV/SXr optics. The final chapter summarises the information presented earlier.
    Źródło:
    Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej; 2022, 71, 2; 49--83
    1234-5865
    Pojawia się w:
    Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-6 z 6

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies