- Tytuł:
-
Nowa metoda generowania punktów offsetowych po skanowaniu CMM
The new method of generation of offset points after CMM scanning - Autorzy:
-
Filipowski, R.
Dąbrowski, L.
Zawora, J. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/157835.pdf
- Data publikacji:
- 2005
- Wydawca:
- Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
- Tematy:
-
głowica pomiarowa
interpolacja
parametryzacja krzywej
probe head
interpolation
form of curve - Opis:
-
Skanowanie złożonych powierzchni na współrzędnościowej maszynie pomiarowej (CMM) jest szybką metodą ich pomiaru. Współrzędne punktów środka kulki głowicy pomiarowej w układzie współrzędnych kartezjańskich są zapisywane do zbioru danych w komputerze (PC). Każdy punkt pomiarowy jest określony przez wektor pozycyjny w prostokątnym układzie oraz parametr zmieniający się od zera do jedności. Przez punkty pomiarowe prowadzi się krzywe parametryczne Fergusona (splajn) a następnie przy ich pomocy generuje się punkty offsetowe. Zastosowane interpolacyjne funkcje Fergusona pozwalają uzyskać dobrą dokładność obliczenia położenia punktów offsetowych powierzchni mierzonych.
This paper presents a new method generating offset points after scanning process of cylindrical surface on the CMM, were in to the file of the connected PC using part coordinate system. The cartesian coordinates of points are transformed in parameter coordinates. By the processing of scanning data, the distance between points are made nearly equal. That way some points positioned too closely were eliminated form the calculation process. This closeness was caused by variation in CMM scanning speed. In the last step, the processed points with parameter coordinates were connected to the Ferguson function, thus enabling determining the position of the offset points. The parameter coordinates of points and the third degree curve (Ferguson curve) lead to very good accuracy of reverse engineering process for cylindrical surfaces. - Źródło:
-
Pomiary Automatyka Kontrola; 2005, R. 51, nr 11, 11; 5-8
0032-4140 - Pojawia się w:
- Pomiary Automatyka Kontrola
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł